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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-11-17 15:40 紙から固有な値を抽出する可視光人工物メトリック・システムの一方式 ○福田康裕・松本 勉（横浜国大）  ISEC2010-55 LOIS2010-34 |
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| 抄録 | （和） | 人工物固有の特徴を用いて認証を行う技術である人工物メトリクスの一つとして，紙から固有な値を再現性よく抽出する人工物メトリック・システムを提案する．紙の測定方法として市販の可視光スキャナで撮影を行い，撮影により紙から得られた画像データの輝度値をもとに生成されるベクトルに誤り訂正符号を適用することにより，撮影時の誤差を吸収して安定して同一の値を抽出することを目指した．システムの設計に先立ち，可視光反射型スキャナ撮影系を用いて紙を撮影して得た画像の誤り特性を調査した．この調査から，アルゴリズムや各パラメータを適切に決定すれば，紙を再提示した場合においても高い読取安定性を有する人工物メトリック・システムを構築できるという結果を得た． |
| （英） | Artifact-metrics is an automated method of authenticating physical object based on a measurable intrinsic characteristic of the object. In this paper we propose a type of artifact-metric system which outputs a number unique to a given piece of paper in a reproducible fashion. As the intrinsic pattern of paper, we adopt the digital image obtained by a visible-light reflection photo scanner. Each time the scanned image fluctuates because of the mechanical moving of the scanner portion and the effect of manual presentation of paper. We study the statistical property of error occurrence and demonstrate that application of error-correcting codes dramatically reduce the errors so that we can design a system with desirable reading stability. | |
| キーワード | （和） | セキュリティ / 紙 / 人工物メトリクス / 誤り訂正符号 / 可視光反射型スキャナ / / / |
| （英） | security / paper / artifact-metrics / error correcting code / visible-light reflection photo scanner / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 281, ISEC2010-55, pp. 37-43, 2010年11月. | |
| 資料番号 | ISEC2010-55 | |
| 発行日 | 2010-11-10 (ISEC, LOIS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ISEC2010-55 LOIS2010-34 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ISEC LOIS |
| 開催期間 | 2010-11-17 - 2010-11-18 |
| 開催地（和） | 筑波大学 |
| 開催地（英） | Tsukuba Univ. |
| テーマ（和） | 情報セキュリティ，ライフログ活用技術，ライフインテリジェンス，オフィス情報システム，一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ISEC |
| 会議コード | 2010-11-ISEC-LOIS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 紙から固有な値を抽出する可視光人工物メトリック・システムの一方式 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Visible-Light Artifact-Metric System which Extracts Values Unique to Individual Paper |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | セキュリティ / security |
| キーワード(2)（和/英） | 紙 / paper |
| キーワード(3)（和/英） | 人工物メトリクス / artifact-metrics |
| キーワード(4)（和/英） | 誤り訂正符号 / error correcting code |
| キーワード(5)（和/英） | 可視光反射型スキャナ / visible-light reflection photo scanner |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 福田 康裕 / Yasuhiro Fukuda / フクダ ヤスヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto / マツモト ツトム |
| 第2著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-11-17 15:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ISEC |
| 資料番号 | ISEC2010-55, LOIS2010-34 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.281(ISEC), no.282(LOIS) |
| ページ範囲 | pp.37-43 |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | 2010-11-10 (ISEC, LOIS) |
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