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講演抄録/キーワード
講演名 2010-11-12 10:45
3D Temperature Field Simulation & Analysis of Pantograph
Chen Hui-juanXu Zhi-hongFuzhou Univ.EMD2010-105 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-105
抄録 (和) Temperature rise of contact strip is the dominate factor determines its wear and friction mechanism. To organize experimental researches into contact strip temperature field on a running electrical vehicle」ャ there will be a great variety of practical difficulties. Therefore, with ANSYS Parametric Design Language, this paper set up a 3D finite element model of pantograph collector head, compiled cyclic loading and solution program to simulate the sliding contact between contact wire and contact strip when the vehicle receives current and moves. Based on numerous calculations and analysis, the basic regular pattern of contact strip temperature rise was studied, influences of various heat sources and materials of the strip were compared. It founded a basis for further study on the pantograph work situation and its electrical life prediction. 
(英) Temperature rise of contact strip is the dominate factor determines its wear and friction mechanism. To organize experimental researches into contact strip temperature field on a running electrical vehicle」ャ there will be a great variety of practical difficulties. Therefore, with ANSYS Parametric Design Language, this paper set up a 3D finite element model of pantograph collector head, compiled cyclic loading and solution program to simulate the sliding contact between contact wire and contact strip when the vehicle receives current and moves. Based on numerous calculations and analysis, the basic regular pattern of contact strip temperature rise was studied, influences of various heat sources and materials of the strip were compared. It founded a basis for further study on the pantograph work situation and its electrical life prediction.
キーワード (和) pantograph / electrical contact / FEA / multiple load steps / temperature field / / /  
(英) pantograph / electrical contact / FEA / multiple load steps / temperature field / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 270, EMD2010-105, pp. 159-162, 2010年11月.
資料番号 EMD2010-105 
発行日 2010-11-04 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2010-105 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-105

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2010-11-11 - 2010-11-12 
開催地(和) 西安交通大学(中国、西安) 
開催地(英) Xi'an Jiaotong University 
テーマ(和) IS-EMD2010(機構デバイス研究会第10回国際セッション) 
テーマ(英) IS-EMD2010 (10th International Session in Electro-Mechanical Devices) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2010-11-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) 3D Temperature Field Simulation & Analysis of Pantograph 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) pantograph / pantograph  
キーワード(2)(和/英) electrical contact / electrical contact  
キーワード(3)(和/英) FEA / FEA  
キーワード(4)(和/英) multiple load steps / multiple load steps  
キーワード(5)(和/英) temperature field / temperature field  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Chen Hui-juan / Chen Hui-juan /
第1著者 所属(和/英) Fuzhou University (略称: Fuzhou Univ.)
Fuzhou University (略称: Fuzhou Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Xu Zhi-hong / Xu Zhi-hong /
第2著者 所属(和/英) Fuzhou University (略称: Fuzhou Univ.)
Fuzhou University (略称: Fuzhou Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2010-11-12 10:45:00 
発表時間 15分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2010-105 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.270 
ページ範囲 pp.159-162 
ページ数
発行日 2010-11-04 (EMD) 


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