お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2020年10月開催~)
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2010-11-11 18:00
Measurement and Calculation of Eddy-Current Loss in Copper Shielding under DC Biased Excitation
Zhigang ZhaoFugui LiuZ.ChengY.DuL.LiuJ.ZhangY.FanWeili YanHebei Univ. of Tech.)   エレソ技報アーカイブはこちら
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) (Not available yet)
キーワード (和) / / / / / / /  
(英) / / / / / / /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
PDFダウンロード

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2010-11-11 - 2010-11-12 
開催地(和) 西安交通大学(中国、西安) 
開催地(英) Xi'an Jiaotong University 
テーマ(和) IS-EMD2010(機構デバイス研究会第10回国際セッション) 
テーマ(英) IS-EMD2010 (10th International Session in Electro-Mechanical Devices) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2010-11-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Measurement and Calculation of Eddy-Current Loss in Copper Shielding under DC Biased Excitation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) /  
キーワード(2)(和/英) /  
キーワード(3)(和/英) /  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Zhigang Zhao / Zhigang Zhao /
第1著者 所属(和/英) Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Fugui Liu / Fugui Liu /
第2著者 所属(和/英) Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Z.Cheng / Z.Cheng /
第3著者 所属(和/英) Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) Y.Du / Y.Du /
第4著者 所属(和/英) Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) L.Liu / L.Liu /
第5著者 所属(和/英) Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) J.Zhang / J.Zhang /
第6著者 所属(和/英) Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) Y.Fan / Y.Fan /
第7著者 所属(和/英) Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) Weili Yan / Weili Yan /
第8著者 所属(和/英) Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
Hebei University of Technology (略称: Hebei Univ. of Tech.)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者
発表日時 2010-11-11 18:00:00 
発表時間 15 
申込先研究会 EMD 
資料番号  
巻番号(vol) IEICE-110 
号番号(no) no.270 
ページ範囲  
ページ数 IEICE- 
発行日  


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会