講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-11-11 13:45
Observations of Structural Transition of Tin Plated Fretting Contacts using FIB-SEM ○Tetsuya Ito・Shigeru Ogihara・Yasuhiro Hattori(AutoNetworks) EMD2010-82 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-82 |
抄録 |
(和) |
In recent years, there has been increasing demand to miniaturize wiring harness connectors in automobiles due to the increasing volume of electronic equipment and so on. With this demand, contact failure caused by the fretting corrosion seems to become a serious problem in the future. In this report, three-dimensional observations using Focused Ion Beam (FIB) - SEM method have been made for tin plated fretting contacts before, during and after the contact resistance increase with tin plating thickness 5 µm. With these observations, the three dimensional structural transition from tin to tin oxide have been examined. |
(英) |
In recent years, there has been increasing demand to miniaturize wiring harness connectors in automobiles due to the increasing volume of electronic equipment and so on. With this demand, contact failure caused by the fretting corrosion seems to become a serious problem in the future. In this report, three-dimensional observations using Focused Ion Beam (FIB) - SEM method have been made for tin plated fretting contacts before, during and after the contact resistance increase with tin plating thickness 5 µm. With these observations, the three dimensional structural transition from tin to tin oxide have been examined. |
キーワード |
(和) |
/ / / / / / / |
(英) |
Fretting / FIB-SEM / / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 270, EMD2010-82, pp. 65-68, 2010年11月. |
資料番号 |
EMD2010-82 |
発行日 |
2010-11-04 (EMD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
EMD2010-82 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-82 |
研究会情報 |
研究会 |
EMD |
開催期間 |
2010-11-11 - 2010-11-12 |
開催地(和) |
西安交通大学(中国、西安) |
開催地(英) |
Xi'an Jiaotong University |
テーマ(和) |
IS-EMD2010(機構デバイス研究会第10回国際セッション) |
テーマ(英) |
IS-EMD2010 (10th International Session in Electro-Mechanical Devices) |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
EMD |
会議コード |
2010-11-EMD |
本文の言語 |
英語 |
タイトル(和) |
|
サブタイトル(和) |
|
タイトル(英) |
Observations of Structural Transition of Tin Plated Fretting Contacts using FIB-SEM |
サブタイトル(英) |
|
キーワード(1)(和/英) |
/ Fretting |
キーワード(2)(和/英) |
/ FIB-SEM |
キーワード(3)(和/英) |
/ |
キーワード(4)(和/英) |
/ |
キーワード(5)(和/英) |
/ |
キーワード(6)(和/英) |
/ |
キーワード(7)(和/英) |
/ |
キーワード(8)(和/英) |
/ |
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
伊藤 哲也 / Tetsuya Ito / イトウ テツヤ |
第1著者 所属(和/英) |
(株)オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称: AutoNetworks) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
荻原 茂 / Shigeru Ogihara / オギハラ シゲル |
第2著者 所属(和/英) |
(株)オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称: AutoNetworks) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
服部 康弘 / Yasuhiro Hattori / ハットリ ヤスヒロ |
第3著者 所属(和/英) |
(株)オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称: AutoNetworks) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第4著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第5著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第6著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第7著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第8著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第9著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第10著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第11著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第12著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第13著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第14著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第15著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第16著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第17著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第18著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第19著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第20著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2010-11-11 13:45:00 |
発表時間 |
15分 |
申込先研究会 |
EMD |
資料番号 |
EMD2010-82 |
巻番号(vol) |
vol.110 |
号番号(no) |
no.270 |
ページ範囲 |
pp.65-68 |
ページ数 |
4 |
発行日 |
2010-11-04 (EMD) |
|