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研究会 - Failure process and dynamic reliability estimation of sealed relay
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講演抄録/キーワード
講演名 2010-11-11 11:00
Failure process and dynamic reliability estimation of sealed relay
Xuerong YeJie DengQiong YuGuofu ZhaiHarbin Inst. of Tech.エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-76
抄録 (和) Usually the failure rate of a sealed relay is regarded as a constant value, no matter where and how it is used. However, the failure processes of sealed relays won。ッt be the same under different conditions, even for one relay, its failure rate also will be changed during operations. This paper studies the failure process of a kind of sealed relay by analyzing the variations of its time parameters. Among contact resistance and all those time parameters, it is found that closing gap time can indicate the failure process of tested relay very well. For the purpose of verifying this conclusion derived from time parameters, the contacts are observed by microscope after the tested relay failed. Both theoretical calculation result of contacts gap and photos taken by microscope show that the hypothetic failure mode derived from time parameters is reasonable. Based on the failure analysis, the paper also proposes a dynamic reliability estimation method with closing gap time. 
(英) Usually the failure rate of a sealed relay is regarded as a constant value, no matter where and how it is used. However, the failure processes of sealed relays won。ッt be the same under different conditions, even for one relay, its failure rate also will be changed during operations. This paper studies the failure process of a kind of sealed relay by analyzing the variations of its time parameters. Among contact resistance and all those time parameters, it is found that closing gap time can indicate the failure process of tested relay very well. For the purpose of verifying this conclusion derived from time parameters, the contacts are observed by microscope after the tested relay failed. Both theoretical calculation result of contacts gap and photos taken by microscope show that the hypothetic failure mode derived from time parameters is reasonable. Based on the failure analysis, the paper also proposes a dynamic reliability estimation method with closing gap time.
キーワード (和) sealed relay / failure process / time parameter / gap time / dynamic reliability estimation / / /  
(英) sealed relay / failure process / time parameter / gap time / dynamic reliability estimation / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 270, EMD2010-76, pp. 41-44, 2010年11月.
資料番号 EMD2010-76 
発行日 2010-11-04 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2010-11-11 - 2010-11-12 
開催地(和) 西安交通大学(中国、西安) 
開催地(英) Xi'an Jiaotong University 
テーマ(和) IS-EMD2010(機構デバイス研究会第10回国際セッション) 
テーマ(英) IS-EMD2010 (10th International Session in Electro-Mechanical Devices) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2010-11-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Failure process and dynamic reliability estimation of sealed relay 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) sealed relay / sealed relay  
キーワード(2)(和/英) failure process / failure process  
キーワード(3)(和/英) time parameter / time parameter  
キーワード(4)(和/英) gap time / gap time  
キーワード(5)(和/英) dynamic reliability estimation / dynamic reliability estimation  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Xuerong Ye / Xuerong Ye /
第1著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Jie Deng / Jie Deng /
第2著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Qiong Yu / Qiong Yu /
第3著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) Guofu Zhai / Guofu Zhai /
第4著者 所属(和/英) Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
Harbin Institute of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2010-11-11 11:00:00 
発表時間 15 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2010-76 
巻番号(vol) IEICE-110 
号番号(no) no.270 
ページ範囲 pp.41-44 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-EMD-2010-11-04 


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