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講演抄録/キーワード
講演名 2010-11-04 15:00
[ポスター講演]多元LDPC符号を用いた量子誤り訂正
笠井健太東工大)・萩原 学産総研)・今井秀樹産総研/中大)・坂庭好一東工大
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抄録 (和) 量子誤り訂正は,量子状態を確実に保存し高信頼度で通信すること,つまり量子計算および量子通信を実現するために必要な技術である.量子LDPC符号は,疎なパリティ検査方程式によって定義された,古典LDPC符号に対応\\
する量子誤り訂正符号である.CSS (Calderbank, Shor and Steane)符号は,量子誤り訂正符号の重要な符号クラスである.本研究では,有限体上で定義されたLDPC符号を用いたCSS符号を提案している.この提案符号は,限界\
距離復号法の性能限界を超えた復号性能を有し,従来知られている最良の量子誤り訂正符号に比べて2倍の誤りを訂正することが可能である. 
(英) Quantum error correction is used in quantum computing and quantum communications to protect quantum information from quantum noise.
Quantum LDPC codes are efficiently decodable quantum error correcting codes defined by sparse parity-check equations.
CSS (Calderbank, Shor and Steane) codes are the most promising quantum error correcting coding scheme.
In this paper, we consider the quantum error correction over the depolarizing channels
with non-binary LDPC codes defined over Galois field of size $2^p$.
The resulting quantum codes outperform the best known quantum codes and
surpass the performance limit of the bounded distance decoder.
By increasing the size of the underlying Galois field, i.e., $2^p$, the error floors are considerably improved.
キーワード (和) 多元LDPC符号 / 量子誤り訂正符号 / / / / / /  
(英) non-binary LDPC codes / quantum error correcting codes / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 265, IBISML2010-77, pp. 135-145, 2010年11月.
資料番号 IBISML2010-77 
発行日 2010-10-28 (IBISML) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 IBISML  
開催期間 2010-11-04 - 2010-11-06 
開催地(和) 東大生産研 
開催地(英) IIS, Univ. of Tokyo 
テーマ(和) IBIS 2010 (情報論的学習理論ワークショップ) 
テーマ(英) IBIS 2010 (Workshop on Information-based Induction Sciences) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IBISML 
会議コード 2010-11-IBISML 
本文の言語 英語(日本語タイトルあり) 
タイトル(和) 多元LDPC符号を用いた量子誤り訂正 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Quantum Error Correction with Non-Binary LDPC Codes 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 多元LDPC符号 / non-binary LDPC codes  
キーワード(2)(和/英) 量子誤り訂正符号 / quantum error correcting codes  
キーワード(3)(和/英) /  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 笠井 健太 / Kenta Kasai / カサイ ケンタ
第1著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 萩原 学 / Manabu Hagiwara / ハギワラ マナブ
第2著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 今井 秀樹 / Hideki Imai / イマイ ヒデキ
第3著者 所属(和/英) 中央大学 (略称: 産総研/中大)
Chuo University (略称: Chuo Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 坂庭 好一 / Kohichi Sakaniwa / サカニワ コウイチ
第4著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Inst. of Tech.)
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講演者
発表日時 2010-11-04 15:00:00 
発表時間 180 
申込先研究会 IBISML 
資料番号 IEICE-IBISML2010-77 
巻番号(vol) IEICE-110 
号番号(no) no.265 
ページ範囲 pp.135-145 
ページ数 IEICE-11 
発行日 IEICE-IBISML-2010-10-28 


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