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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-10-15 11:15 反射型結像鏡を用いた顕微カー効果磁気計測装置の開発 ○近藤祐治・山川清志（秋田県産技総研センター）・中村勇希・石尾俊二（秋田大）・有明 順（秋田県産技総研センター）  MR2010-32 エレソ技報アーカイブへのリンク：MR2010-32 |
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| 抄録 | （和） | ビットパターン媒体などの硬磁性ナノ構造体の磁気計測を目的として，強磁場中においても偏光軸に影響が少ない反射型結像鏡を採用した顕微カー効果磁気計測装置の開発を行った．反射型結像鏡には極めて単純な球面鏡のみで構成されたSchwarzschild結像鏡を用いた．この結像鏡の結像式から3次の球面収差を打ち消す条件を用いて，倍率200倍の光学パラメータの解析設計を行った．光線追跡法により結像評価を行った結果，収差がほとんどなく，直径200 $\mu$mの光源に対して，ほぼ倍率通りの1.02 $\mu$mのマイクロビームが得られることがわかった．さらに実際にレーザ光源，光学素子，電磁石を組上げ，75 $\mu$mハーフピッチのCo_{80}Pt_{20}メッシュを用いたナイフエッジ法によりビームサイズ評価を行った．その結果，200 $\mu$mのピンホールを用いて4.7 $\mu$mのマイクロビームが得られた．また，上記のCo_{80}Pt_{20}メッシュを用いて直交偏光子法によりカー効果測定を行った結果，市販の装置で得られる磁化曲線とほとんど同じ結果が得られた． |
| （英） | A microscopic Kerr effect magnetometry using reflection objective was developed in order to characterize the magnetic properties of hard magnetic nano-structures such as bit patterned media. Schwarzschild type objective consisted of two spherical mirror was applied as the reflection objective. Optics with magnification of 200 was designed analytically to satisfy the conditions at which the third order spherical aberration was cancelled. For the optics parameters, the simulated spot was derived to 1.02 $\mu$m in diameter for a 200 $\mu$m-diameter source by a ray tracing. The microscopic Kerr effect magnetometry was fabricated based on optics design parameters, and actual spot diameter was estimated to be 4.7 $\mu$m by knife-edge scan using Co_{80}Pt_{20} mesh with half pitch of 75 $\mu$m. Furthermore, Kerr effect magnetization loop measured by the developed magnetometer on the mesh agreed with one measured by a commercial equipment. | |
| キーワード | （和） | 顕微カー効果磁気計測 / 反射型結像鏡 / Schwarzschild結像鏡 / 磁性ドット / / / / |
| （英） | Microscopic Kerr effect magnetometry / Reflection objective / Schwarzschild objective / Magnetic dot / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, 2010年10月. | |
| 資料番号 | ||
| 発行日 | 2010-10-07 (MR) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MR2010-32 エレソ技報アーカイブへのリンク：MR2010-32 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ITE-MMS MRIS |
| 開催期間 | 2010-10-14 - 2010-10-15 |
| 開催地（和） | 秋田県産業技術総合研究センター 高度技術研究所 |
| 開催地（英） | Akita Research and Development Center |
| テーマ（和） | 磁気記録，一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MRIS |
| 会議コード | 2010-10-MMS-MR |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 反射型結像鏡を用いた顕微カー効果磁気計測装置の開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Development of microscopic Kerr effect magnetometry using reflection objective |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 顕微カー効果磁気計測 / Microscopic Kerr effect magnetometry |
| キーワード(2)（和/英） | 反射型結像鏡 / Reflection objective |
| キーワード(3)（和/英） | Schwarzschild結像鏡 / Schwarzschild objective |
| キーワード(4)（和/英） | 磁性ドット / Magnetic dot |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 近藤 祐治 / Yuji Kondo / コンドウ ユウジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術総合研究センター (略称： 秋田県産技総研センター) Akita Research and Development Center (略称： ARDC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山川 清志 / Kiyoshi Yamakawa / ヤマカワ キヨシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術総合研究センター (略称： 秋田県産技総研センター) Akita Research and Development Center (略称： ARDC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中村 勇希 / Nakamura Yuki / ナカムラ ユウキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 秋田大学 (略称： 秋田大) Akita University (略称： Akita Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 石尾 俊二 / Shunji Ishio / イシオ シュンジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 秋田大学 (略称： 秋田大) Akita University (略称： Akita Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 有明 順 / Jun Ariake / アリアケ ジュン |
| 第5著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術総合研究センター (略称： 秋田県産技総研センター) Akita Research and Development Center (略称： ARDC) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-10-15 11:15:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | MRIS |
| 資料番号 | MR2010-32 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.225 |
| ページ範囲 | pp.65-69 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2010-10-07 (MR) |
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