| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-09-28 15:25 高時間分解能を実現するSETパルス幅測定回路の提案 ○原田 諒・密山幸男・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大）  VLD2010-55 |
|
| 抄録 | （和） | 本稿では，放射線起因一過性パルス (SET) のパルス幅測定回路を提案する．まず中性子加速実験によるSET測定に必要な要件を検討し，時間分解能，測定効率，パルス幅の絶対値の正確さ，などの点から従来手法の問題点を指摘する．さらに，SET測定回路に求められる全ての要件を満たし，ファンアウト1インバータ遅延より細かい時間分解能を実現する，2種類の測定回路と校正用パルスジェネレータを提案する．提案測定回路のうち，1種類の測定回路と校正用パルスジェネレータを搭載した 65 nm テストチップでα線照射実験を行い，提案回路の有効性を確認した． |
| （英） | This paper presents two circuits to measure pulse width distribution of single event transients (SETs). We first review requirements for SET measurement in accelerated neutron radiation test and point out problems of previous works, in terms of time resolution, time/area efficiency for obtaining large samples and certainty in absolute values of pulse width. We then devise two measurement circuits and a pulse generator circuit that satisfy all the requirements and attain sub-FO1-inverter-delay resolution, and propose a measurement procedure for assuring the absolute width values. Operation of one of the proposed circuits was confirmed by a radiation experiment of alpha particles with a fabricated test chip. |
|
| キーワード | （和） | ソフトエラー / 放射線起因一過性パルス (SET) / パルス幅 / 測定回路 / / / / |
| （英） | soft error / single event transient (SET) / pulse width / measurement circuit / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 210, VLD2010-55, pp. 77-82, 2010年9月. | |
| 資料番号 | VLD2010-55 | |
| 発行日 | 2010-09-20 (VLD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2010-55 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
| 開催期間 | 2010-09-27 - 2010-09-28 |
| 開催地（和） | 京都工繊大 60周年記念館 |
| 開催地（英） | Kyoto Institute of Technology |
| テーマ（和） | 物理設計および一般 |
| テーマ（英） | Physical design, etc |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2010-09-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 高時間分解能を実現するSETパルス幅測定回路の提案 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Measurement Circuits for Acquiring SET PulseWidth Distribution with Fine Time Resolution |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / soft error |
| キーワード(2)（和/英） | 放射線起因一過性パルス (SET) / single event transient (SET) |
| キーワード(3)（和/英） | パルス幅 / pulse width |
| キーワード(4)（和/英） | 測定回路 / measurement circuit |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 原田 諒 / Ryo Harada / ハラダ リョウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 密山 幸男 / Yukio Mitsuyama / ミツヤマ ユキオ |
| 第2著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋本 昌宜 / Masanori Hashimoto / ハシモト マサノリ |
| 第3著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 尾上 孝雄 / Takao Onoye / オノエ タカオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-09-28 15:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2010-55 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.210 |
| ページ範囲 | pp.77-82 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-09-20 (VLD) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]