講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-07-30 13:00
3次元周波数領域ベクトル有限要素法を用いたシリコン細線導波路の曲げ特性解析 ○皆瀬 怜・川口雄揮・齊藤晋聖・小柴正則(北大) MW2010-62 OPE2010-47 エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2010-62 OPE2010-47 |
抄録 |
(和) |
シリコン細線導波路は,コアとクラッド間の高い屈折率差により強い光閉じ込めを実現できるため,従来の石英系光導波路を用いた光回路を小型化できると期待されている.光回路を構成するには曲がり導波路が不可欠であり,また,その構造は曲がり導波路と直線導波路がいくつも接続されるといった複雑なものが多い.このため,その回路特性を正しく評価するには曲がり部だけでなく,直線導波路と曲がり導波路部分におけるモード不整合を考慮した曲げ特性解析が必須となる.そこで本報告では,3次元ベクトル有限要素法を用いた解析ソルバーを開発し,接続損失も含めたシリコン細線導波路の曲げ特性解析に応用することについて検討を行っている. |
(英) |
Silicon wires can achieve a strong optical confinement according to the high refractive index difference between the core and cladding material. Therefore, it is expected that they can reduce the size of optical circuits based on conventional silica waveguides. In general, optical circuits are composed of numbers of bent waveguides connected with straight waveguides. In order to evaluate propagation characteristics of such waveguides, we have to consider mismatch of the mode field between bent waveguides and straight waveguides. In this work, we evaluate bending characteristics of silicon wires with a newly developed three-dimensional vectorial finite element method. |
キーワード |
(和) |
シリコン細線導波路 / 有限要素法 / 曲げ損失 / / / / / |
(英) |
Silicon wires / Finite Element Method / Bending loss / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 156, OPE2010-47, pp. 205-210, 2010年7月. |
資料番号 |
OPE2010-47 |
発行日 |
2010-07-22 (MW, OPE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
MW2010-62 OPE2010-47 エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2010-62 OPE2010-47 |
研究会情報 |
研究会 |
EMT OPE MW IEE-EMT |
開催期間 |
2010-07-29 - 2010-07-30 |
開催地(和) |
北海道大学 学術交流会館第3・第4会議室 |
開催地(英) |
Hokkaido Univ. |
テーマ(和) |
マイクロ波フォトニクス技術,一般 |
テーマ(英) |
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講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
OPE |
会議コード |
2010-07-EMT-OPE-MW-EMT |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
3次元周波数領域ベクトル有限要素法を用いたシリコン細線導波路の曲げ特性解析 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Evaluation of Bending Characteristics in Silicon Wires Using Three-Dimensional Frequency-Domain Vectorial Finite Element Method |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
シリコン細線導波路 / Silicon wires |
キーワード(2)(和/英) |
有限要素法 / Finite Element Method |
キーワード(3)(和/英) |
曲げ損失 / Bending loss |
キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
皆瀬 怜 / Satoshi Kaise / カワグチ ユウキ |
第1著者 所属(和/英) |
北海道大学 (略称: 北大)
Hokkido University (略称: Hokkaido Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
川口 雄揮 / Yuki Kawaguchi / サイトウ クニマサ |
第2著者 所属(和/英) |
北海道大学 (略称: 北大)
Hokkido University (略称: Hokkaido Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
齊藤 晋聖 / Kunimasa Saitoh / コシバ マサノリ |
第3著者 所属(和/英) |
北海道大学 (略称: 北大)
Hokkido University (略称: Hokkaido Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
小柴 正則 / Masanori Koshiba / コシバ マサノリ |
第4著者 所属(和/英) |
北海道大学 (略称: 北大)
Hokkido University (略称: Hokkaido Univ.) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2010-07-30 13:00:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
OPE |
資料番号 |
MW2010-62, OPE2010-47 |
巻番号(vol) |
vol.110 |
号番号(no) |
no.155(MW), no.156(OPE) |
ページ範囲 |
pp.205-210 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2010-07-22 (MW, OPE) |