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講演抄録/キーワード
講演名 2010-07-23 15:35
65nm CMOSプロセスを用いた偏光計測イメージセンサの設計・開発
宍戸三四郎野田俊彦笹川清隆徳田 崇太田 淳奈良先端大)   エレソ技報アーカイブはこちら
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文献情報 信学技報
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研究会情報
研究会 ICD ITE-IST  
開催期間 2010-07-22 - 2010-07-23 
開催地(和) 常翔学園大阪センター 
開催地(英) Josho Gakuen Osaka Center 
テーマ(和) アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路 
テーマ(英) Analog, Mixed analog and digital, RF, and sensor interface circuitry 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ITE-IST 
会議コード 2010-07-IST-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 65nm CMOSプロセスを用いた偏光計測イメージセンサの設計・開発 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Design and Development of Polarization-Analyzing Image Sensor using 65nm CMOS Process 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 宍戸 三四郎 / Sanshiro Shishido / シシド サンシロウ
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 野田 俊彦 / Toshihiko Noda / ノダ トシヒコ
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称: NAIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 笹川 清隆 / Kiyotaka Sasagawa / ササガワ キヨタカ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称: NAIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 徳田 崇 / Takashi Tokuda / トクダ タカシ
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称: NAIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 太田 淳 / Jun Ohta / オオタ ジュン
第5著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
NARA INSTITUTE of SCIENCE and TECHNOLOGY (略称: NAIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2010-07-23 15:35:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ITE-IST 
資料番号  
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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