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講演抄録/キーワード
講演名 2010-07-23 14:10
[招待講演]素粒子実験用TDCとSOI放射線イメージ検出器
新井康夫高エネルギー加速器研究機構)   エレソ技報アーカイブはこちら
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文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 ICD ITE-IST  
開催期間 2010-07-22 - 2010-07-23 
開催地(和) 常翔学園大阪センター 
開催地(英) Josho Gakuen Osaka Center 
テーマ(和) アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路 
テーマ(英) Analog, Mixed analog and digital, RF, and sensor interface circuitry 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ITE-IST 
会議コード 2010-07-IST-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 素粒子実験用TDCとSOI放射線イメージ検出器 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) TDC and SOI Radiation Image Sensor for Particle Physics 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 新井 康夫 / Yasuo Arai / アライ ヤスオ
第1著者 所属(和/英) 高エネルギー加速器研究機構 素粒子原子核研究所 (略称: 高エネルギー加速器研究機構)
High Energy Accelerator Research Organization, Institute of Particle and Nuclear Studies (略称: KEK IPNS)
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講演者
発表日時 2010-07-23 14:10:00 
発表時間 50 
申込先研究会 ITE-IST 
資料番号  
巻番号(vol) IEICE-110 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数 IEICE- 
発行日  


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