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講演抄録/キーワード
講演名 2010-07-23 15:45
3次の項を考慮したFTMゲートの誤り確率について
万中貴夫渡邉 昇東京理科大IT2010-33
抄録 (和) 現在のコンピュータは非可逆、非保存なゲートで構成されているので、情報の損失がおきる。
情報が損失しないためには、可逆で保存的な論理ゲートを使う必要がある。その1つとしてFTMゲートを用いた。以前までは2次の項の相互作用ハミルトニアンがFTMゲートに用いられていたが、3次の項まで考慮してより厳密な計算を行う。 
(英) Since the current computer is consisted of irreversible and nonconservative gates, it causes loss of information in computational process. It is necessary to use the reversible, conservative logic gates (e.g. FT gate) in order to solve these problems. One of the physical model of FT gate is called FTM gate given by Milbern.
In this paper, we consider the error probability for the FTM gate considering third term of the interaction Hamiltonian of the Kerr device.
キーワード (和) 量子計算機 / FTMゲート / 誤り確率 / Kerr効果 / / / /  
(英) Quantum computer / FTMgate / Kerr effect / error probabily / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 137, IT2010-33, pp. 125-130, 2010年7月.
資料番号 IT2010-33 
発行日 2010-07-15 (IT) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード IT2010-33

研究会情報
研究会 IT  
開催期間 2010-07-22 - 2010-07-23 
開催地(和) 工学院大学 
開催地(英) Kogakuin University 
テーマ(和) フレッシュマンセッション,一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IT 
会議コード 2010-07-IT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 3次の項を考慮したFTMゲートの誤り確率について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On Error Probability of FTM Gate Considering Third Term of Kerr Effect 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 量子計算機 / Quantum computer  
キーワード(2)(和/英) FTMゲート / FTMgate  
キーワード(3)(和/英) 誤り確率 / Kerr effect  
キーワード(4)(和/英) Kerr効果 / error probabily  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 万中 貴夫 / Takao Manchu / マンチュウ タカオ
第1著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of Science (略称: Tokyo Univ. of Science)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 渡邉 昇 / Noboru Watanabe / ワタナベ ノボル
第2著者 所属(和/英) 東京理科大学 (略称: 東京理科大)
Tokyo University of Science (略称: Tokyo Univ. of Science)
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講演者 第1著者 
発表日時 2010-07-23 15:45:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 IT 
資料番号 IT2010-33 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.137 
ページ範囲 pp.125-130 
ページ数
発行日 2010-07-15 (IT) 


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