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| 講演名 | 2010-07-22 11:35 単一磁束量子論理回路のための故障モデルとテストパターン生成手法の検討 ○鬼頭信貴（京大）・田中雅光・高木一義（名大）・高木直史（京大）  SCE2010-19 エレソ技報アーカイブへのリンク：SCE2010-19 |
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| 抄録 | （和） | 本研究では，製造後のSFQ回路が正常に動作することを確認するためのテストの 手法について議論する． SFQ回路は高速で，パルス論理を用いるなど通常の半導体回路とは異なる性質を 持つ． このため，ジッタの影響によりゲートの入力において信号到達サイクルがずれる 等の 一般の半導体論理回路の故障とは異なるタイプの故障が生じ， 半導体回路とは異なる故障のモデル化とテストパターンの生成法が必要になる． 本研究では，SFQ回路のための故障のモデル化を行い， テスト生成について検討する． |
| （英） | This report discusses fault modeling and test generation for Single Flux Quqntum(SFQ) logic circuits. SFQ circuits are very fast and use special logic system (pulse logic). Therefore, SFQ specific faults different from those in CMOS logic circuits exist such as jitter of data arrival cycle at gate inputs. This report shows a fault model for SFQ circuit specific faults and shows a test generation method with respect to it. |
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| キーワード | （和） | SFQ回路 / テスト / 故障診断 / タイミング故障 / / / / |
| （英） | Single flux quantum circuit / testing / fault diagnosis / timing fault / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 139, SCE2010-19, pp. 31-35, 2010年7月. | |
| 資料番号 | SCE2010-19 | |
| 発行日 | 2010-07-15 (SCE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SCE2010-19 エレソ技報アーカイブへのリンク：SCE2010-19 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
| 開催期間 | 2010-07-22 - 2010-07-22 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 信号処理基盤技術及びその応用、一般 |
| テーマ（英） | Signal processing technologies and their applications, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SCE |
| 会議コード | 2010-07-SCE |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 単一磁束量子論理回路のための故障モデルとテストパターン生成手法の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fault Modeling and Test Generation for Single Flux Quantum Logic Circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | SFQ回路 / Single flux quantum circuit |
| キーワード(2)（和/英） | テスト / testing |
| キーワード(3)（和/英） | 故障診断 / fault diagnosis |
| キーワード(4)（和/英） | タイミング故障 / timing fault |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鬼頭 信貴 / Nobutaka Kito / キトウ ノブタカ |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田中 雅光 / Masamitsu Tanaka / タナカ マサミツ |
| 第2著者 所属（和/英） | 名古屋大学 (略称： 名大) Nagoya University (略称： Nagoya Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高木 一義 / Kazuyoshi Takagi / タカギ カズヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 名古屋大学 (略称： 名大) Nagoya University (略称： Nagoya Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高木 直史 / Naofumi Takagi / タカギ ナオフミ |
| 第4著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-07-22 11:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SCE |
| 資料番号 | SCE2010-19 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.139 |
| ページ範囲 | pp.31-35 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2010-07-15 (SCE) |
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