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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-07-16 12:35 ハンマリング加振機構による電気接点劣化現象 ～ 接触抵抗について(その13) ～ 和田真一・○園田健人・越田圭治・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大）  EMCJ2010-32 EMD2010-17 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-17 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，鉛直方向においてハンマリング加振機構によって電気接点に対する微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた．本研究では，モバイル機器に補助記憶装置として使用されており，その耐振動特性を解析する必要があると考えられるSDメモリーカードを被加振対象とした．実験の結果，2000万回の加振後に電気接点の劣化現象が見られた．接触抵抗値変動と接触表面状態には相関が見られた．微小振動がSDメモリーカードの電気接点に与える影響について考察できる可能性が示唆された． |
| （英） | Authors studied the influence on contact resistance by micro-vibration to electrical contacts using hammering oscillation mechanism. In this paper, SD memory cards used in the mobile machinery for auxiliary storage unit were used as experimental materials because of the necessity of analysis about characteristics for oscillation. As a result of the experiment, it was shown that there was degradation phenomenon of electrical contacts after 20 millions hammerings and correlation between fluctuation of contact resistance and condition of contact surface. It was suggested that there was the influence on contact resistance by micro-vibration. | |
| キーワード | （和） | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / ハンマリング加振機構 / 接触力 / SDメモリーカード / / |
| （英） | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / hammering oscillating mechanism / contact force / SD memory card / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 133, EMD2010-17, pp. 1-6, 2010年7月. | |
| 資料番号 | EMD2010-17 | |
| 発行日 | 2010-07-09 (EMCJ, EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2010-32 EMD2010-17 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-17 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ EMD |
| 開催期間 | 2010-07-16 - 2010-07-16 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 放電，実装，EMC，一般 |
| テーマ（英） | Electric discharge, Packaging, EMC, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2010-07-EMCJ-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構による電気接点劣化現象 |
| サブタイトル（和） | 接触抵抗について(その13) |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism |
| サブタイトル（英） | Contact Resistance (13) |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 接触力 / contact force |
| キーワード(6)（和/英） | SDメモリーカード / SD memory card |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 園田 健人 / Taketo Sonoda / ソノダ タケト |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン |
| 第4著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小田部 正能 / Masayoshi Kotabe / コタベ マサヨシ |
| 第5著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第6著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System co. jp. (略称： TMC) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第7著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： Nippon Inst. of Tech.) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2010-07-16 12:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMCJ2010-32, EMD2010-17 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.132(EMCJ), no.133(EMD) |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-07-09 (EMCJ, EMD) |
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