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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-07-16 14:30 電流プローブおよび光電圧プローブによるESD波形測定 ○飯田幹也（東芝）  EMCJ2010-36 EMD2010-21 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-21 |
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| 抄録 | （和） | ESDによる電子機器の誤動作メカニズム解明のためには，ESDの影響を受けるIC入力端でのESD波形を測定することが重要である．そこで，電流プローブおよび光電圧プローブによるESD測定方法を考案した．その測定方法の妥当性確認のため，両プローブの，伝達特性の測定，ターゲット板ＥＳＤ印加時波形測定，マイクロストリップライン基板ＥＳＤ印加時波形測定を実施した．その結果、両プローブのＥＳＤ印加時波形測定値がよく一致し，これによって測定方法の妥当性が確認できた． |
| （英） | ESD causes the malfunction of an electronic equipment. In order to clarify the ESD influence to malfunction mechanism, it is important to measure ESD waveform on IC input terminals. We present a novel ESD measuring method using current probe and the optical voltage probe in this paper. We carried out experimentation to estimate the validity. The transfer characteristics of the probes, waveform when the ESD was applied to target plane and waveform when the ESD was applied to microstrip line substrate were measured respectively. The waveform measured by current probe showed good agreement with that by optical voltage probe and the validation of our measuring approach is confirmed. | |
| キーワード | （和） | 静電気 / 接触放電 / IEC61000-4-2 / マイクロストリップライン / 電流プローブ / 光電圧プローブ / / |
| （英） | ESD / Contact Discharge / IEC61000-4-2 / Microstrip Line / Current Probe / Optical Voltage Probe / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 132, EMCJ2010-36, pp. 25-30, 2010年7月. | |
| 資料番号 | EMCJ2010-36 | |
| 発行日 | 2010-07-09 (EMCJ, EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2010-36 EMD2010-21 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-21 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ EMD |
| 開催期間 | 2010-07-16 - 2010-07-16 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 放電，実装，EMC，一般 |
| テーマ（英） | Electric discharge, Packaging, EMC, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2010-07-EMCJ-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 電流プローブおよび光電圧プローブによるESD波形測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | ESD waveform measurement with current probe and optical voltage probe |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 静電気 / ESD |
| キーワード(2)（和/英） | 接触放電 / Contact Discharge |
| キーワード(3)（和/英） | IEC61000-4-2 / IEC61000-4-2 |
| キーワード(4)（和/英） | マイクロストリップライン / Microstrip Line |
| キーワード(5)（和/英） | 電流プローブ / Current Probe |
| キーワード(6)（和/英） | 光電圧プローブ / Optical Voltage Probe |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 飯田 幹也 / Mikiya Iida / イイダ ミキヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社 東芝 (略称： 東芝) Toshiba Corporation (略称： Toshiba Corp.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-07-16 14:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2010-36, EMD2010-21 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.132(EMCJ), no.133(EMD) |
| ページ範囲 | pp.25-30 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-07-09 (EMCJ, EMD) |
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