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講演抄録/キーワード
講演名 2010-07-09 15:35
EMC試験機器校正を目指した高周波インピーダンス標準の開発
堀部雅弘信太正明産総研
抄録 (和) EMIレシーバや疑似電源回路網(LISN/AMN)などでは,入力インピーダンスや挿入損失の校正が必要とされている.その校正周波数範囲は最低周波数が9 kHzと非常に低い.近年,これら周波数に対応したベクトルネットワークアナライザ(VNA)が登場し,それら機器のインピーダンス測定は容易となった.しかし,校正で
求められる国家標準へのトレーサビリティを実現するために,VNAのトレーサビリティを確立し,そのための国家計量標準も不可欠である.このたび,9 kHzからのSパラメータ標準を確立し,それを用いたVNAのトレーサビリティの方法を開発したので報告する. 
(英) In EMI receiver and artificial mains network (LISN/AMN), etc. the calibration of the input impedance and the insertion loss is needed. The lowest frequency of the calibration range is very low with 9kHz. Recently, the impedance calibration of those equipments became easy by vector network analyzers (VNAs) corresponding to these frequencies being used. However, establishing S-parameter national standard and traceability concept of VNA at RF are required in these impedance measurements. This time, S parameter standard is established from 9 kHz, and the method of the traceability in VNA measurement at RF was developed.
キーワード (和) EMIレシーバ / 疑似電源回路網 / インピーダンス測定 / RF / ベクトルネットワークアナライザ / 計量トレーサビリティ / /  
(英) EMI receiver / LISN/AMN / Impedance measurement / RF / Vector network analyzer / Metrological traceability / /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 ACT  
開催期間 2010-07-09 - 2010-07-09 
開催地(和) NICT麹町会議室 
開催地(英) NICT Kohji-machi Office 
テーマ(和) 無線機器測定技術一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ACT 
会議コード 2010-07-ACT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) EMC試験機器校正を目指した高周波インピーダンス標準の開発 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Development of RF Impedance Standards for EMC Test Instruments 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) EMIレシーバ / EMI receiver  
キーワード(2)(和/英) 疑似電源回路網 / LISN/AMN  
キーワード(3)(和/英) インピーダンス測定 / Impedance measurement  
キーワード(4)(和/英) RF / RF  
キーワード(5)(和/英) ベクトルネットワークアナライザ / Vector network analyzer  
キーワード(6)(和/英) 計量トレーサビリティ / Metrological traceability  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 堀部 雅弘 / Masahiro Horibe / ホリベ マサヒロ
第1著者 所属(和/英) 産業技術あ総合研究所 (略称: 産総研)
NMIJ-AIST (略称: NMIJ-AIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 信太 正明 / Masaaki Shida /
第2著者 所属(和/英) 産業技術あ総合研究所 (略称: 産総研)
NMIJ-AIST (略称: NMIJ-AIST)
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講演者
発表日時 2010-07-09 15:35:00 
発表時間 25 
申込先研究会 ACT 
資料番号  
巻番号(vol)  
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