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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-06-25 15:15 ランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を用いたBASTアーキテクチャにおけるテストパターンマッチング法 ○陳 贇・細川利典（日大）・吉村正義（九大）  DC2010-11 |
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| 抄録 | （和） | LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み合わせたテスト手法であるBAST法が提案されている．BASTアーキテクチャにおいて，擬似ランダムパターン発生器で生成された擬似ランダムパターンを決定的パターンに変換するためにビット反転を用いている．テストデータ量やテスト実行時間を削減するためには，ビット反転数を削減する必要がある．本論文では，検出回数がN回以下である故障集合を検出するために，不必要な値をドントケアとするランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出法を用いる．擬似ランダムパターンのビット反転数を削減するために，決定的パターン集合に対してランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を適用して，擬似ランダムパターンとマッチングする手法を提案する．さらに， ITC’99ベンチマーク回路を用いて，ランダムパターンレジスタント故障数，ドントケア数，未検出故障数，ビット反転数及びテスト実行時間の関係を評価する． |
| （英） | BAST is one of techniques which are combined ATPG and BIST to reduce the amount of test data while maintaining the high test quality. On BAST architecture, a bit-flipping technique is used to convert pseudo-random patterns to deterministic patterns. In this paper, we use a don’t care identification technique for random-pattern resistant faults which identifies unnecessary signal value to detect the fault set as don’t care bits. Random-pattern resistant faults are defined that those detection time by a given test pattern set is equal or less than N. We propose a method of mapping between a pseudo-random pattern set and a deterministic pattern set for random-pattern resistant faults to which don’t care identification technique is applied. We also evaluate the relationship among the number of random-pattern resistant faults, the number of don’t care bits, the number of undetected faults, the number of bit-flips, and test application time for ITC’99 benchmark circuits. | |
| キーワード | （和） | BASTアーキテクチャ / ドントケア抽出 / 反転数削減 / ランダムパターンレジスタント故障 / / / / |
| （英） | BAST Architecture / don’t care Identification / bit flipping reduction / random-pattern resistant faults / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 106, DC2010-11, pp. 19-24, 2010年6月. | |
| 資料番号 | DC2010-11 | |
| 発行日 | 2010-06-18 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2010-11 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2010-06-25 - 2010-06-25 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2010-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を用いたBASTアーキテクチャにおけるテストパターンマッチング法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A test pattern matching method on BAST architecture using don't care identification for the detection of random pattern resistant faults |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BASTアーキテクチャ / BAST Architecture |
| キーワード(2)（和/英） | ドントケア抽出 / don’t care Identification |
| キーワード(3)（和/英） | 反転数削減 / bit flipping reduction |
| キーワード(4)（和/英） | ランダムパターンレジスタント故障 / random-pattern resistant faults |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 陳 贇 / Yun Chen / チン イン |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-06-25 15:15:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2010-11 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.106 |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-06-18 (DC) |
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