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講演抄録/キーワード
講演名 2010-05-28 13:50
Si細線導波路を用いた三種類の結合器における性能の分析と比較
田中大輝慶大)・金高健二産総研)・伊熊雄一郎津田裕之慶大LQE2010-9 エレソ技報アーカイブへのリンク:LQE2010-9
抄録 (和) Si細線導波路で構成される三種類の結合器における性能の分析と比較を行った.本研究で提案するクロスギャップ結合器,方向性結合器,多モード干渉結合器について波長依存性,過剰損失を評価した.評価の手段としては二次元の有限差分時間領域法(2-D FDTD)を用いた. 
(英) We analyzed and compared the splitting properties of three types of coupler using a silicon wire waveguide; a cross gap coupler (CGC), a directional coupler (DC), and a multimode interference (MMI) coupler. The wavelength dependence and the excess losses of these structures were analyzed by two-dimensional finite-difference time-domain (2-D FDTD) method.
キーワード (和) Si細線導波路 / クロスギャップ結合器 / 方向性結合器 / 多モード干渉結合器 / / / /  
(英) Si Wire Waveguide / Cross Gap Coupler / Directional Coupler / Multimode Interference Coupler / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 66, LQE2010-9, pp. 35-38, 2010年5月.
資料番号 LQE2010-9 
発行日 2010-05-21 (LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード LQE2010-9 エレソ技報アーカイブへのリンク:LQE2010-9

研究会情報
研究会 LQE  
開催期間 2010-05-28 - 2010-05-28 
開催地(和) 福井大学 文京キャンパス 総合研究棟I 13階会議室 
開催地(英) Sougou Kenkyuu Tou I, Bunkyo Campus, Univ. of Fukui 
テーマ(和) 量子光学、非線形光学、超高速現象、レーザ基礎、及び一般 
テーマ(英) Quantum optics, nonlinear optics, ultra-high speed phenomenon, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 LQE 
会議コード 2010-05-LQE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) Si細線導波路を用いた三種類の結合器における性能の分析と比較 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Simulation analysis and comparison of three types of coupler using a Si wire waveguide 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Si細線導波路 / Si Wire Waveguide  
キーワード(2)(和/英) クロスギャップ結合器 / Cross Gap Coupler  
キーワード(3)(和/英) 方向性結合器 / Directional Coupler  
キーワード(4)(和/英) 多モード干渉結合器 / Multimode Interference Coupler  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中 大輝 / Daiki Tanaka / タナカ ダイキ
第1著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 金高 健二 / Kenji Kintaka / キンタカ ケンジ
第2著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊熊 雄一郎 / Yuichiro Ikuma / イクマ ユウイチロウ
第3著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 津田 裕之 / Hiroyuki Tsuda / ツダ ヒロユキ
第4著者 所属(和/英) 慶應義塾大学 (略称: 慶大)
Keio University (略称: Keio Univ.)
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講演者
発表日時 2010-05-28 13:50:00 
発表時間 25 
申込先研究会 LQE 
資料番号 IEICE-LQE2010-9 
巻番号(vol) IEICE-110 
号番号(no) no.66 
ページ範囲 pp.35-38 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-LQE-2010-05-21 


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