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講演抄録/キーワード
講演名 2010-05-14 11:00
遮断円筒導波管法によるアンダーフィル材料の複素誘電率測定に関する検討
清水隆志中村雅人古神義則宇都宮大MW2010-23 エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2010-23
抄録 (和) ミリ波帯における低損失誘電体材料の測定法として、遮断円筒導波管法がよく知られている。筆者らは、誘電正接が10-3以下の材料に対して、高精度に測定が行えることをこれまで実証してきた。しかしながら、10-2程度の被測定試料に対する検討が不十分であった。本研究では、10-2程度の中損失な誘電体材料として、半導体回路の実装強度向上に使用されるアンダーフィル材料を選択し、その複素誘電率測定を行うことで遮断円筒導波管法の測定精度を検討した。その結果、常温における測定では、比誘電率に関しては2.3%以内、誘電正接に関して40%以内の測定精度を得られることを実証した。 
(英) The cutoff waveguide method is well known as a measurement method for low loss dielectric materials in millimeter wave region. Authors have reported that this method was able to measure in high accuracy the dielectric material which has the value of the loss tangent of 10-3 or less. However, the study on the measurement of the dielectric materials which has the value of loss tangent of 10-2 order was insufficient. In this paper, the study on the complex permittivity measurements for mid loss dielectric materials using the cutoff waveguide method is presented. Underfill materials, which used for packaging of semiconductor circuits, is selected as mid loss dielectric materials. As a result, the measurement accuracy of the cutoff waveguide method for the dielectric materials with the loss tangent of 10-2 or more is within 2.3% for the relative permittivity, and is within 40% for the loss tangent.
キーワード (和) 遮断円筒導波管法 / 複素誘電率 / アンダーフィル材料 / ミリ波 / / / /  
(英) Cutoff waveguide method / Complex permittivity / Underfill material / Millimeter-wave / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 25, MW2010-23, pp. 51-54, 2010年5月.
資料番号 MW2010-23 
発行日 2010-05-06 (MW) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード MW2010-23 エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2010-23

研究会情報
研究会 MW  
開催期間 2010-05-13 - 2010-05-14 
開催地(和) 兵庫県立大学 
開催地(英) University of Hyogo 
テーマ(和) マイクロ波一般 
テーマ(英) Microwave Technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 MW 
会議コード 2010-05-MW 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 遮断円筒導波管法によるアンダーフィル材料の複素誘電率測定に関する検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Study on the complex permittivity measurements for underfill materials using the cutoff waveguide method 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 遮断円筒導波管法 / Cutoff waveguide method  
キーワード(2)(和/英) 複素誘電率 / Complex permittivity  
キーワード(3)(和/英) アンダーフィル材料 / Underfill material  
キーワード(4)(和/英) ミリ波 / Millimeter-wave  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 清水 隆志 / Takashi Shimizu / シミズ タカシ
第1著者 所属(和/英) 宇都宮大学 (略称: 宇都宮大)
Utsunomiya University (略称: Utsunomiya Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 雅人 / Masato Nakamura / ナカムラ マサト
第2著者 所属(和/英) 宇都宮大学 (略称: 宇都宮大)
Utsunomiya University (略称: Utsunomiya Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 古神 義則 / Yoshinori Kogami / コガミヨ シノリ
第3著者 所属(和/英) 宇都宮大学 (略称: 宇都宮大)
Utsunomiya University (略称: Utsunomiya Univ.)
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講演者
発表日時 2010-05-14 11:00:00 
発表時間 25 
申込先研究会 MW 
資料番号 IEICE-MW2010-23 
巻番号(vol) IEICE-110 
号番号(no) no.25 
ページ範囲 pp.51-54 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-MW-2010-05-06 


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