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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-04-13 17:20 耐永久故障FPGAアーキテクチャ ○岡田崇志・喜多貴信・塩谷亮太・五島正裕・坂井修一（東大）  CPSY2010-7 DC2010-7 |
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| 抄録 | （和） | 宇宙で使用される電子機器は，放射線によりシングル・イベント効果などの故障を引き起こしやすいため，高い放射線耐性が要求される．また修理，交換が困難なこともあり，自律的に故障から回復する機構が求められる．本稿では，通常用途のFPGA (Field-Programmable Gate Array) にわずかなハードウェアを追加するだけで，過渡故障，永久故障に対する耐性を付加する手法を提案する．本手法では，機能回復ロジックをFPGA のユーザロジック上に構成することで，コンフィギュレーションデータを計算するための追加ハードウェアの必要をなくす．この手法により生じる面積オーバヘッドは小さいため，通常用途と高信頼用途の両立が可能であると考えられる． |
| （英） | Since electric devices for space applications are likely to experience radiation induced errors, such as the Single Event Effects, they must be designed to protect against faults. In addition, it is difficult to replace or fix faulty units in space. For that reason, autonomous detection and recovery machanism is required.This paper presents a fault-tolerant FPGA (Field-Programmable Gate Array) architecuture that requires little additional hardware. We incorporate the RM (Recovery Manager) into the FPGA ’s user logic, which means no special hard-wired logic is required for calculating configuration data. The area overhead is so small in our apporach that we can devise FPGAs that are useful for both normal and critical operations. | |
| キーワード | （和） | FPGA / 耐故障性 / 三重化 / 動的再構成 / / / / |
| （英） | FPGA / Fault tolerance / TMR / Dynamic Reconfiguration / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 2, CPSY2010-7, pp. 33-37, 2010年4月. | |
| 資料番号 | CPSY2010-7 | |
| 発行日 | 2010-04-06 (CPSY, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPSY2010-7 DC2010-7 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC CPSY |
| 開催期間 | 2010-04-13 - 2010-04-13 |
| 開催地（和） | 東京工業大学（大岡山） |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | ディペンダブルコンピューティングシステムおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | CPSY |
| 会議コード | 2010-04-DC-CPSY |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 耐永久故障FPGAアーキテクチャ |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fault-tolerant FPGA Architecture |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(2)（和/英） | 耐故障性 / Fault tolerance |
| キーワード(3)（和/英） | 三重化 / TMR |
| キーワード(4)（和/英） | 動的再構成 / Dynamic Reconfiguration |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岡田 崇志 / Takashi Okada / オカダ タカシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) Tokyo University (略称： Tokyo Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 喜多 貴信 / Takanobu Kita / キタ タカノブ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) Tokyo University (略称： Tokyo Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 塩谷 亮太 / Ryota Shioya / シオヤ リョウタ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) Tokyo University (略称： Tokyo Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 五島 正裕 / Masahiro Goshima / ゴシマ マサヒロ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) Tokyo University (略称： Tokyo Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坂井 修一 / Shuichi Sakai / サカイ シュウイチ |
| 第5著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) Tokyo University (略称： Tokyo Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-04-13 17:20:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | CPSY |
| 資料番号 | CPSY2010-7, DC2010-7 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.2(CPSY), no.3(DC) |
| ページ範囲 | pp.33-37 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2010-04-06 (CPSY, DC) |
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