お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2010-02-15 09:00
統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出
中村芳行田中正史NECエレクトロニクスDC2009-65
抄録 (和) プロセスの微細化に伴いIddqのばらつきが増大しており、Iddqテストが困難になっている。このため、Iddqの変動を観測する?Iddq方式などが提案されているが、Iddq変動の要因が多元化し、さらに故障の影響によるIddq変動が微小化しており、判定は困難になっている。本稿では、Iddqの多次元的なoutlierを検出可能な、マハラノビス距離を用いた統計的手法を提案する。また、実製造データにより効果を検証したので報告する。 
(英) With manufacturing process advances, Iddq test becomes difficult due to its variance. Though ?Iddq or various methods were proposed to overcome it, Iddq testing is still difficult because the factor of Iddq variance is increasing and the most of faults affect only small Iddq differences. In this paper, we propose Iddq testing using Mahalanobis distance to identify outliers of multi-dimensional Iddq variance. We also report the evaluation results of our method using real manufacturing data.
Keyword Iddq test,Statistical test, adaptive test, Mahalanobis distance
キーワード (和) Iddqテスト / 統計的テスト / アダプティブテスト / マハラノビス距離 / / / /  
(英) Iddq test / Statistical test / adaptive test / Mahalanobis distance / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 416, DC2009-65, pp. 1-5, 2010年2月.
資料番号 DC2009-65 
発行日 2010-02-08 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2009-65

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2010-02-15 - 2010-02-15 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2010-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Statistical Method of Small Iddq Variance Outlier Detection 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Iddqテスト / Iddq test  
キーワード(2)(和/英) 統計的テスト / Statistical test  
キーワード(3)(和/英) アダプティブテスト / adaptive test  
キーワード(4)(和/英) マハラノビス距離 / Mahalanobis distance  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 芳行 / Yoshiyuki Nakamura / ナカムラ ヨシユキ
第1著者 所属(和/英) NECエレクトロニクス株式会社 (略称: NECエレクトロニクス)
NEC Electronics corporation (略称: NEC Electronics)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中 正史 / Masashi Tanaka / タナカ マサシ
第2著者 所属(和/英) NECエレクトロニクス株式会社 (略称: NECエレクトロニクス)
NEC Electronics corporation (略称: NEC Electronics)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第3著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2010-02-15 09:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2009-65 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.416 
ページ範囲 pp.1-5 
ページ数
発行日 2010-02-08 (DC) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会