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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-02-15 14:10 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について 奥 慎治・○梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大/JTS）  DC2009-73 |
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| 抄録 | （和） | 本研究では，テストキューブに対する3値の遅延故障シミュレーションにおいて，故障遅延の遅延値の算出手法を提案する．テストキューブのXに論理値を割り当てる前は，各故障を検出可能な遅延値は一意に定まっていない．提案手法は， Xに論理値を割り当てた後のテストパターンで検出可能な遅延値の範囲を算出する．提案手法により，テストキューブのテスト品質の上限を求めることができる．本研究では，さらに，より良い品質のテストパターンが得られるように，遺伝的アルゴリズムを用いたテストキューブのXへの論理値割り当て手法を提案する．最後にベンチマーク回路による実験により提案手法の有効性を示す． |
| （英） | This paper proposes a method to compute delay values in 3-valued fault simulation for test cubes which are test patterns with unspecified values (Xs). Because the detectable delay size of each fault by a test cube is not fixed before assigning logic values to the Xs in the test cube, the proposed method only computes a range of the detectable delay values of the test patterns covered by the test cubes. By using the proposed method, we derive the lowest and the highest test quality of test patterns covered by the test cubes. Furthermore, we also propose a GA (genetic algorithm)-based method to generate fully specified test patterns with high test quality from test cubes. Experimental results for benchmark circuits show the effectiveness of the proposed methods. | |
| キーワード | （和） | 遅延テスト / ＳＤＱＭ / 遷移遅延故障 / 故障シミュレーション / テストキューブ / / / |
| （英） | delay test / SDQM / transition fault / fault simulation / test cube / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 416, DC2009-73, pp. 51-56, 2010年2月. | |
| 資料番号 | DC2009-73 | |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2009-73 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2010-02-15 - 2010-02-15 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2010-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Calculation of Delay Test Quality for Test Cubes and X-filling |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遅延テスト / delay test |
| キーワード(2)（和/英） | ＳＤＱＭ / SDQM |
| キーワード(3)（和/英） | 遷移遅延故障 / transition fault |
| キーワード(4)（和/英） | 故障シミュレーション / fault simulation |
| キーワード(5)（和/英） | テストキューブ / test cube |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 奥 慎治 / Shinji Oku / オク シンジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学/JST, CREST (略称： 九工大/JTS) Kyushu Institute of Technology/JST, CREST (略称： Kyushu Inst. of Tech./JTS) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学/JST, CREST (略称： 九工大/JTS) Kyushu Institute of Technology/JST, CREST (略称： Kyushu Inst. of Tech./JTS) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学/JST, CREST (略称： 九工大/JTS) Kyushu Institute of Technology/JST, CREST (略称： Kyushu Inst. of Tech./JTS) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学/JST, CREST (略称： 九工大/JTS) Kyushu Institute of Technology/JST, CREST (略称： Kyushu Inst. of Tech./JTS) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学/JST, CREST (略称： 九工大/JTS) Kyushu Institute of Technology/JST, CREST (略称： Kyushu Inst. of Tech./JTS) |
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| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2010-02-15 14:10:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2009-73 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.416 |
| ページ範囲 | pp.51-56 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-02-08 (DC) |
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