講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-02-15 13:45
遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法 ○湯本仁高・細川利典(日大)・吉村正義(九大) DC2009-72 |
抄録 |
(和) |
近年,半導体集積技術の進展に伴い,大規模集積回路(LSI)が大規模化,高集積化している.LSIが大規模化,高集積化することによって回路内のゲート数が増加しており,それに比例してテストパターン数も増加している.また,縮退故障モデルのみのテストでは検出することが困難なタイミング遅延を伴う欠陥や信号線間の短絡による欠陥も増加しており,縮退故障の検出に加えて遷移故障やブリッジ故障の検出が重要となっている.本論文では,遷移故障を検出するためのテストパターン数を削減する方法として,ブロードサイド方式において制御ポイントを挿入する方法を提案する.制御ポイントを挿入することによってテストパターン中のドントケア数が増加し,テスト圧縮の効率が高まると考えられる. |
(英) |
The recent advances in semiconductor processing technology have resulted in the exponential increase in LSI circuit density. The number of test patterns increases in proportion to the number of gates on LSIs. In stuck-at fault testing, it is difficult to detect defects with timing delay and shorts between signal lines. Thus, in addition to detection of stuck-at faults, it is important to detect transition faults and bridging faults. In this paper, we propose a control point insertion method on broadside testing to reduce the number of test patterns for transition faults. It is considered that because the number of don't care bits in test patterns increases by control point insertion, the efficiency for test compaction is improved. Experimental results for ISCAS'89 benchmark circuits show that the proposed control point insertion method is effective to reduce the number of test patterns. |
キーワード |
(和) |
遷移故障 / ブロードサイド方式 / テストポイント挿入 / 制御ポイント / テスト圧縮 / / / |
(英) |
transition faults / broadside testing / test point insertion / control points / test compaction / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 109, no. 416, DC2009-72, pp. 45-50, 2010年2月. |
資料番号 |
DC2009-72 |
発行日 |
2010-02-08 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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DC2009-72 |