講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-01-29 10:50
液晶材料の閾値電圧、弾性定数比及び誘電率比の高精度測定法の確立 ○千葉祐介・大野友嗣・石鍋隆宏・宮下哲哉・内田龍男(東北大) EID2009-71 エレソ技報アーカイブへのリンク:EID2009-71 |
抄録 |
(和) |
電圧無印加時のホモジニアス配向液晶セル内において生じる干渉の入射角依存性を利用して,液晶材料の屈折率を高い精度で測定を行い,この結果を基に電圧印加時における液晶分子の配向分布を求めることにより液晶材料の閾値電圧,弾性定数比,誘電率比を高精度に測定する方法を考案し,実験により本測定法の妥当性を確認した. |
(英) |
We devised a high-precision method of measuring the threshold voltage and the elastic and dielectric constants ratios of liquid crystal materials. We obtained these parameters from measuring the alignment distribution of homogeneous alignment LC cell in the on state. We confirmed the validly of this method through measurements of several LC cells with different gaps. |
キーワード |
(和) |
液晶 / 高精度測定 / 閾値電圧 / 弾性定数比 / 誘電率比 / 配向膜容量 / / |
(英) |
Liquid crystal / High-precision measurement / Threshold voltage / Elastic constants ratio / Dielectric constants ratio / Capacitance of alignment layer / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 109, pp. 99-102, 2010年1月. |
資料番号 |
|
発行日 |
2010-01-21 (EID) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
EID2009-71 エレソ技報アーカイブへのリンク:EID2009-71 |