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講演抄録/キーワード
講演名 2009-12-10 15:15
HDDのSER改善に向けた外来雑音影響抑圧の検討
西山延昌日立グローバルストレージテクノロジーズMR2009-41 エレソ技報アーカイブへのリンク:MR2009-41
抄録 (和) HDDの高速データ転送化とともに、外来雑音によるエラーレートの劣化が大きくなった。そこで、外来雑音として、装置に流れる雑音電流、電磁波による誘導雑音に着目して、装置内部への侵入原因を明らかにした。(1)カバー・ベース間のインピーダンスが高いために、スピンドル等を介した内部の低インピーダンス部を雑音電流は流れる。(2)カバー・ベース・ネジで構成されるスロットで、電磁波による誘導共振が生じ、高周波電流が内部へ侵入する。対策は、銅テープでカバー・ベース間を短絡させ、低インピーダンス化、スロットサイズの小型化を実現した。エラーレート評価の結果、高周波電流の侵入抑圧が可能であることを示した。 
(英) High data rate of a HDD follows on progressing, and the error rate degradation by the external signal is becoming large. Its attention was paid to the interference signal by the EM wave or conductive signals in order to clarify the cause of invasion of the induced current inside DE. The causes are. (1) The impedance between cover and base is high, and since the impedance between the cover and base through the spindle inside the DE is lower, then interference current flow an inside. (2) About the slot which consists of cover, base and screws, the slot resonance phenomenon by the electromagnetic wave arises. The high frequency current near the resonance frequency invade the inside of the DE. The measure shows below. A metal tape is stuck on the mid portion of a slot, it makes size small. Furthermore, a metal tape makes short-circuits between cover and base, and makes lower impedance between them. Invasion of external interference signals are deterred and a SER improvement can be realized.
キーワード (和) 外来雑音 / 電磁波 / 誘導雑音 / スロット共振 / エラーレート / 雑音伝達特性 / /  
(英) External noise / EM waveform / induced noise / slot resonance / symbol error rate / conductive noise / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, 2009年12月.
資料番号  
発行日 2009-12-03 (MR) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード MR2009-41 エレソ技報アーカイブへのリンク:MR2009-41

研究会情報
研究会 ITE-MMS MRIS  
開催期間 2009-12-10 - 2009-12-11 
開催地(和) 愛媛大学 工学部 
開催地(英) Ehime Univ. 
テーマ(和) 信号処理および一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 MRIS 
会議コード 2009-12-MMS-MR 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) HDDのSER改善に向けた外来雑音影響抑圧の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Examination of the External Interference Signals Reduction towards the SER improvement of HDD 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 外来雑音 / External noise  
キーワード(2)(和/英) 電磁波 / EM waveform  
キーワード(3)(和/英) 誘導雑音 / induced noise  
キーワード(4)(和/英) スロット共振 / slot resonance  
キーワード(5)(和/英) エラーレート / symbol error rate  
キーワード(6)(和/英) 雑音伝達特性 / conductive noise  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 西山 延昌 / Nobumasa Nishiyama / ニシヤマ ノブマサ
第1著者 所属(和/英) (株)日立グローバルストレージテクノロジーズ (略称: 日立グローバルストレージテクノロジーズ)
Hitachi Global Storage Tachnologies Japan, Ltd. (略称: Hitachi Global Storage Tachnologies Japan, Ltd.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2009-12-10 15:15:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 MRIS 
資料番号 MR2009-41 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.328 
ページ範囲 pp.27-34 
ページ数
発行日 2009-12-03 (MR) 


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