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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-12-03 14:05 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究 ○別府 厳（九工大）・宮瀬紘平（九工大/JST）・大和勇太（九工大）・温 暁青・梶原誠司（九工大/JST）  VLD2009-55 DC2009-42 |
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| 抄録 | （和） | LSIのテストにおけるスキャンシフト動作，キャプチャ動作時の消費電力やIR-dropの増加は，解決すべき重要な課題である．スキャンシフト時の消費電力はDFT等の技術で削減可能である場合が多い．また，キャプチャ時の消費電力削減には，回路の修正，テストデータ量の増加，ATPGの修正を伴わないテストパターン修正手法が有効である．テストパターン修正手法はX判定とX-fillingから構成される．従来のX判定は，テストパターン中にできるだけ多くのXビットを見つけようとするが，比較的Xビット数の低いテストキューブも存在する．一般的に，各テストキューブに必要とされるXビット数はX-fillingと目的によって異なるものである．本論文では， ユーザが要求したXビット分布に従ってXビットの分布を制御する手法を提案する．実験結果では，提案手法が信号値遷移を削減するようなXビットの分布を求めることができることを示す． |
| （英） | Increase of power dissipation and IR-drop during scan-shifting operation and/or capture operation is still challenging problem for LSI testing. It is known that power dissipation during scan-shifting can be reduced with DFT techniques. As for capture power reduction, post-ATPG test modification is the preferable solution since it does not cause circuit modification, test data inflation and ATPG modification consists of X-identification and X-filling. Although the existing X-identification identifies a plenty number of X-bits, some test cubes have a relatively small number of X-bits. Usually a desirable number of X-bits for each test cube must be different depending on X-filling and its purposes. In this paper we propose a new X-identification to control the X-bit distribution according to a given required distribution. Experimental results demonstrate the proposed method to optimize the percentage of X-bits to reduce switching activity. | |
| キーワード | （和） | ATPG / Xビット / X判定 / X-filling / テストパターン修正 / / / |
| （英） | ATPG / X-bit / X-identification / X-filling / post-ATPG test modification / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 316, DC2009-42, pp. 95-100, 2009年12月. | |
| 資料番号 | DC2009-42 | |
| 発行日 | 2009-11-25 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2009-55 DC2009-42 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2009-12-02 - 2009-12-04 |
| 開催地（和） | 高知市文化プラザ |
| 開催地（英） | Kochi City Culture-Plaza |
| テーマ（和） | デザインガイア2009 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2009 ―New Field of VLSI Design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2009-12-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Optimizing Don't-Care Bit Rate Derived from X-Identification for Reduction of Switching Activity |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ATPG / ATPG |
| キーワード(2)（和/英） | Xビット / X-bit |
| キーワード(3)（和/英） | X判定 / X-identification |
| キーワード(4)（和/英） | X-filling / X-filling |
| キーワード(5)（和/英） | テストパターン修正 / post-ATPG test modification |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 別府 厳 / Isao Beppu / ベップ イサオ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Institute of Tech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学/独立行政法人科学技術振興機構 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology/JST CREST (略称： Kyushu Institute of Tech/JST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大和 勇太 / Yuta Yamato / ヤマト ユウタ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Institute of Tech) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学/独立行政法人科学技術振興機構 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology/JST CREST (略称： Kyushu Institute of Tech/JST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学/独立行政法人科学技術振興機構 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology/JST CREST (略称： Kyushu Institute of Tech/JST) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-12-03 14:05:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2009-55, DC2009-42 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.315(VLD), no.316(DC) |
| ページ範囲 | pp.95-100 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-11-25 (VLD, DC) |
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