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講演抄録/キーワード
講演名 2009-11-20 15:10
Observation of Tin Plated Fretting Contacts using FIB-SEM
Tetsuya ItoYoshiyuki NomuraYasuhiro HattoriAutoNetworks Technologiesエレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2009-101
抄録 (和) In recent years, there has been increasing demand to miniaturize wiring harness connectors in automobiles due to the increasing volume of electronic equipment and the reduction of the installation space allocated for the electronic equipment in automobiles. With this demand, contact failure caused by the fretting corrosion seems to become a serious concern in the future.
In this report, Focused Ion Beam (FIB) - SEM technique was applied to observe the tin plated fretting contacts. Spatial distributions of tin, tin oxide and so on have been confirmed quantitatively in two plating thickness of 1 and 5 micrometers. 
(英) In recent years, there has been increasing demand to miniaturize wiring harness connectors in automobiles due to the increasing volume of electronic equipment and the reduction of the installation space allocated for the electronic equipment in automobiles. With this demand, contact failure caused by the fretting corrosion seems to become a serious concern in the future.
In this report, Focused Ion Beam (FIB) - SEM technique was applied to observe the tin plated fretting contacts. Spatial distributions of tin, tin oxide and so on have been confirmed quantitatively in two plating thickness of 1 and 5 micrometers.
キーワード (和) Fretting / FIB-SEM / Tin Plating Thickness / / / / /  
(英) Fretting / FIB-SEM / Tin Plating Thickness / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 287, EMD2009-101, pp. 137-140, 2009年11月.
資料番号 EMD2009-101 
発行日 2009-11-12 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2009-11-19 - 2009-11-20 
開催地(和) 日本工業大学 神田キャンパス 
開催地(英) Nippon Institute of Technology, Kanda Campus, Tokyo, Japan 
テーマ(和) IS-EMD2009 (機構デバイス研究会 第9回国際セッション) 
テーマ(英) IS-EMD2009 (9th International Session on Electro-Mechanical Devices) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2009-11-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Observation of Tin Plated Fretting Contacts using FIB-SEM 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Fretting / Fretting  
キーワード(2)(和/英) FIB-SEM / FIB-SEM  
キーワード(3)(和/英) Tin Plating Thickness / Tin Plating Thickness  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊藤 哲也 / Tetsuya Ito / イトウ テツヤ
第1著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称: AutoNetworks Technologies)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 野村 良行 / Yoshiyuki Nomura / ノムラ ヨシユキ
第2著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称: AutoNetworks Technologies)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori / ハットリ ヤスヒロ
第3著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称: AutoNetworks Technologies)
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講演者
発表日時 2009-11-20 15:10:00 
発表時間 20 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2009-101 
巻番号(vol) IEICE-109 
号番号(no) no.287 
ページ範囲 pp.137-140 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-EMD-2009-11-12 


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