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| 講演名 | 2009-11-20 15:10 Observation of Tin Plated Fretting Contacts using FIB-SEM ○Tetsuya Ito・Yoshiyuki Nomura・Yasuhiro Hattori（AutoNetworks Technologies）  EMD2009-101 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2009-101 |
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| 抄録 | （和） | In recent years, there has been increasing demand to miniaturize wiring harness connectors in automobiles due to the increasing volume of electronic equipment and the reduction of the installation space allocated for the electronic equipment in automobiles. With this demand, contact failure caused by the fretting corrosion seems to become a serious concern in the future. In this report, Focused Ion Beam (FIB) - SEM technique was applied to observe the tin plated fretting contacts. Spatial distributions of tin, tin oxide and so on have been confirmed quantitatively in two plating thickness of 1 and 5 micrometers. |
| （英） | In recent years, there has been increasing demand to miniaturize wiring harness connectors in automobiles due to the increasing volume of electronic equipment and the reduction of the installation space allocated for the electronic equipment in automobiles. With this demand, contact failure caused by the fretting corrosion seems to become a serious concern in the future. In this report, Focused Ion Beam (FIB) - SEM technique was applied to observe the tin plated fretting contacts. Spatial distributions of tin, tin oxide and so on have been confirmed quantitatively in two plating thickness of 1 and 5 micrometers. |
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| キーワード | （和） | Fretting / FIB-SEM / Tin Plating Thickness / / / / / |
| （英） | Fretting / FIB-SEM / Tin Plating Thickness / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 287, EMD2009-101, pp. 137-140, 2009年11月. | |
| 資料番号 | EMD2009-101 | |
| 発行日 | 2009-11-12 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2009-101 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2009-101 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2009-11-19 - 2009-11-20 |
| 開催地（和） | 日本工業大学 神田キャンパス |
| 開催地（英） | Nippon Institute of Technology, Kanda Campus, Tokyo, Japan |
| テーマ（和） | IS-EMD2009 （機構デバイス研究会 第9回国際セッション） |
| テーマ（英） | IS-EMD2009 (9th International Session on Electro-Mechanical Devices) |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2009-11-EMD |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Observation of Tin Plated Fretting Contacts using FIB-SEM |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | Fretting / Fretting |
| キーワード(2)（和/英） | FIB-SEM / FIB-SEM |
| キーワード(3)（和/英） | Tin Plating Thickness / Tin Plating Thickness |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 哲也 / Tetsuya Ito / イトウ テツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称： AutoNetworks Technologies) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 野村 良行 / Yoshiyuki Nomura / ノムラ ヨシユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称： AutoNetworks Technologies) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori / ハットリ ヤスヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称： AutoNetworks Technologies) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2009-11-20 15:10:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2009-101 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.287 |
| ページ範囲 | pp.137-140 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2009-11-12 (EMD) |
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