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講演抄録/キーワード
講演名 2009-11-19 10:30
多接触点を持つ見掛けの接触面積の接触抵抗解析
澤田 滋玉井輝雄三重大)・服部康弘オートネットワーク技研)・飯田和生三重大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2009-72
抄録 (和) 接点における集中抵抗の研究に関して、接点形状に対する影響や、めっきに対す
る影響、表面粗さの影響など、過去多くの研究者が研究を行っている。しかし、
見かけの接触面積(荷重支持面積)に対する集中抵抗が、真実接触点の分散状態
、接触面積によりどのように変化するかについての研究は、詳しく行われていな
い。本研究では、定常状態でのラプラス方程式を数値解析することにより、多接
点での様々な条件下での集中抵抗の計算を行った。その結果、真実接触点が分散
している場合、見かけの面積に対して、真実接触面積が20%程度しかなくても、
接触抵抗は、100%接触時に比べ高々1.5倍程度にしかならないことが明らかとな
った。 
(英) Many researchers have studied influences of contact shape, plating conditions, and surface roughness on constriction resistance at a contact point. However, detail research to know how constriction resistance of the apparent contact area depends on the distribution status of the real contact points and on the total real contact area has not been performed. In our study, therefore, constriction resistance is calculated by numerical analysis using Laplace's equations for electric potential in the steady state in many cases of contact spot dispersion status. The results show that the apparent contact resistance with only 15% real contact area does not increase beyond 1.5 times of the real contact resistance. Therefore, it is proven that contact resistance can be practically calculated using the apparent contact area instead of the real contact area.
キーワード (和) 電気接点 / 接触抵抗 / 真実接触面積 / 数値解析 / / / /  
(英) Electrical contact / constriction resistance / real contact area / numerical analysis / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 287, EMD2009-72, pp. 13-16, 2009年11月.
資料番号 EMD2009-72 
発行日 2009-11-12 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2009-11-19 - 2009-11-20 
開催地(和) 日本工業大学 神田キャンパス 
開催地(英) Nippon Institute of Technology, Kanda Campus, Tokyo, Japan 
テーマ(和) IS-EMD2009 (機構デバイス研究会 第9回国際セッション) 
テーマ(英) IS-EMD2009 (9th International Session on Electro-Mechanical Devices) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2009-11-EMD 
本文の言語 英語(日本語タイトルあり) 
タイトル(和) 多接触点を持つ見掛けの接触面積の接触抵抗解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Constriction resistance analysis of multi-contact spots 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / Electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 接触抵抗 / constriction resistance  
キーワード(3)(和/英) 真実接触面積 / real contact area  
キーワード(4)(和/英) 数値解析 / numerical analysis  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤田 滋 / Shigeru Sawada / サワダ シゲル
第1著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 玉井 輝雄 / Terutaka Tamai / タマイ テルタカ
第2著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori / ハットリ ヤスヒロ
第3著者 所属(和/英) オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称: AutoNetworks Technologies)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 飯田 和生 / Kazuo Iida / イイダ カズオ
第4著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
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講演者
発表日時 2009-11-19 10:30:00 
発表時間 20 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2009-72 
巻番号(vol) IEICE-109 
号番号(no) no.287 
ページ範囲 pp.13-16 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-EMD-2009-11-12 


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