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講演抄録/キーワード
講演名 2009-11-19 11:10
The Discrimination of Failure Mechanisms by Analyzing the Variations of Time Parameters for Relays
Shujuan Wang・○Qiong YuGuofu ZhaiXiaochen LiHarbin Inst. of Techエレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2009-74
抄録 (和) Usually the contact voltage drop or contact resistance of electromagnetic relays is observed only to identify if the contacts are failure or not on the manufactures。ッ life tests. However, it is difficult to reveal the contact performance degradation because the variation of contact resistance may not be obvious. In this paper, a new life test technology was investigated to analyze the failure mechanisms and degenerative process of electromagnetic relays by measuring their time parameters including closing time, opening time, over-travel time, rebound duration during each operation. Moreover, for the purpose of verifying the time parameters, the contact motion and contact morphology during life test were record by using a high speed camera. Both the variations of time parameters and information obtained from photos taken by high speed camera show that it involves three different degenerative phases during the whole life of a relay. The results also indicate this method is an effective technology to discriminate and diagnose the failure mechanisms for electromagnetic relays. 
(英) Usually the contact voltage drop or contact resistance of electromagnetic relays is observed only to identify if the contacts are failure or not on the manufactures。ッ life tests. However, it is difficult to reveal the contact performance degradation because the variation of contact resistance may not be obvious. In this paper, a new life test technology was investigated to analyze the failure mechanisms and degenerative process of electromagnetic relays by measuring their time parameters including closing time, opening time, over-travel time, rebound duration during each operation. Moreover, for the purpose of verifying the time parameters, the contact motion and contact morphology during life test were record by using a high speed camera. Both the variations of time parameters and information obtained from photos taken by high speed camera show that it involves three different degenerative phases during the whole life of a relay. The results also indicate this method is an effective technology to discriminate and diagnose the failure mechanisms for electromagnetic relays.
キーワード (和) Relays / Time parameters / Life test / Failure mechanism / Failure process / / /  
(英) Relays / Time parameters / Life test / Failure mechanism / Failure process / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 287, EMD2009-74, pp. 21-24, 2009年11月.
資料番号 EMD2009-74 
発行日 2009-11-12 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2009-11-19 - 2009-11-20 
開催地(和) 日本工業大学 神田キャンパス 
開催地(英) Nippon Institute of Technology, Kanda Campus, Tokyo, Japan 
テーマ(和) IS-EMD2009 (機構デバイス研究会 第9回国際セッション) 
テーマ(英) IS-EMD2009 (9th International Session on Electro-Mechanical Devices) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2009-11-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) The Discrimination of Failure Mechanisms by Analyzing the Variations of Time Parameters for Relays 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Relays / Relays  
キーワード(2)(和/英) Time parameters / Time parameters  
キーワード(3)(和/英) Life test / Life test  
キーワード(4)(和/英) Failure mechanism / Failure mechanism  
キーワード(5)(和/英) Failure process / Failure process  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Shujuan Wang / Shujuan Wang /
第1著者 所属(和/英) Harbin Institude of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech)
Harbin Institude of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Qiong Yu / Qiong Yu /
第2著者 所属(和/英) Harbin Institude of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech)
Harbin Institude of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Guofu Zhai / Guofu Zhai /
第3著者 所属(和/英) Harbin Institude of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech)
Harbin Institude of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) Xiaochen Li / Xiaochen Li /
第4著者 所属(和/英) Harbin Institude of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech)
Harbin Institude of Technology (略称: Harbin Inst. of Tech)
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講演者
発表日時 2009-11-19 11:10:00 
発表時間 20 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2009-74 
巻番号(vol) IEICE-109 
号番号(no) no.287 
ページ範囲 pp.21-24 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-EMD-2009-11-12 


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