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講演抄録/キーワード
講演名 2009-11-19 17:00
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗について(その(8) ~
和田真一園田健人越田圭治サインダー ノロブリン菊地光男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2009-85
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) Authors have developed the mechanism which gives vibration to electrical contacts by hammering oscillation and studied the influences of a micro-oscillating on the contacts. They measured fluctuations of resistances in the three conditions (150G for acceleration and 2.0N for contact force, 150G & 0.3N and 400G & 2.0N). It was shown that the fluctuations were occurred in all cases but the time-series pattern was different from one another in contact resistance, starting number and scratched slits. It should be considered more carefully how are the phenomenon occurred to pay more attentions to other factors like voltage and current.
キーワード (和) / / / / / / /  
(英) electrical contact / hammering oscillation mechanism / contact resistance / acceleration / displacement / contact force / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 287, EMD2009-85, pp. 71-74, 2009年11月.
資料番号 EMD2009-85 
発行日 2009-11-12 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2009-11-19 - 2009-11-20 
開催地(和) 日本工業大学 神田キャンパス 
開催地(英) Nippon Institute of Technology, Kanda Campus, Tokyo, Japan 
テーマ(和) IS-EMD2009 (機構デバイス研究会 第9回国際セッション) 
テーマ(英) IS-EMD2009 (9th International Session on Electro-Mechanical Devices) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2009-11-EMD 
本文の言語 英語(日本語タイトルあり) 
タイトル(和) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 接触抵抗について(その(8) 
タイトル(英) Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by Hammering Oscillating Mechanism 
サブタイトル(英) Contact Resistance(VIII) 
キーワード(1)(和/英) / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) / hammering oscillation mechanism  
キーワード(3)(和/英) / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) / acceleration  
キーワード(5)(和/英) / displacement  
キーワード(6)(和/英) / contact force  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada /
第1著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co.Ltd. (略称: TMC System)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 園田 健人 / Taketo Sonoda /
第2著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co.Ltd. (略称: TMC System)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida /
第3著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co.Ltd. (略称: TMC System)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling /
第4著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co.Ltd. (略称: TMC System)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 菊地 光男 / Mitsuo Kikuchi /
第5著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co.Ltd. (略称: TMC System)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota /
第6著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System Co.Ltd. (略称: TMC System)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa /
第7著者 所属(和/英) 慶応大学 (略称: 慶大)
Keio University. (略称: Keio Univ.)
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講演者
発表日時 2009-11-19 17:00:00 
発表時間 20 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-EMD2009-85 
巻番号(vol) IEICE-109 
号番号(no) no.287 
ページ範囲 pp.71-74 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-EMD-2009-11-12 


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