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講演抄録/キーワード
講演名 2009-10-30 09:25
タングステンメッシュにより生成した高密度水素ラジカルアニールによるZnO:Al薄膜の低抵抗化
大島 穣田原将巳モハマド ハニフ長岡技科大)・片桐裕則新保和夫長岡高専)・黒木雄一郎高田雅介・○安井寛治長岡技科大CPM2009-97 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2009-97
抄録 (和) 第三電極を有するrfマグネトロンスパッタ法を用いて堆積したAl ドープZnO(AZO)膜を水素プラズマアニール処
理することで、抵抗率の低減と基板面内分布の改善効果が見られることを見出してきた。加熱金属触媒体の表面反応を用いると
水素ガスが高効率に分解し、放電を用いた場合に比べ1 桁以上高密度の水素ラジカルが生成出来る。そこで今回、AZO 膜の更
なる低抵抗化を目指して、加熱したタングステンメッシュ表面で生成した水素ラジカルによる水素アニールの効果を調べた。そ
の結果、メッシュ温度1100-1300℃においてはキャリア密度の増大とHall 移動度の向上が見られたが、メッシュ温度1400℃以上
では、結晶性の悪化とキャリア密度の大幅な減少が見られた。 
(英) Al doped ZnO (AZO) films has been deposited by a radio frequency (rf) magnetron sputtering with a third electrode. The
resistivity of the AZO films has decreased and its uniformity has also been improved by hydrogen plasma annealing. In order to further
lower the resistivity of the AZO films, hydrogen annealing using the hydrogen radicals generated on a tungsten hot-mesh was investigated.
As a result, both the electron density and Hall mobility increased at the tungsten mesh temperatures of 1100-1300°C. However, the
crystallinity of the ZnO films deteriorated and their electron densites greatly decreased by the hydrogen radical annealing at the tungsten
mesh temperatures higher than 1400°C. The increase in the Hall mobility was considered to be due to the reduction of the adsorbed oxygen
on the grain boundary by the hydrogen annealing.
キーワード (和) AZO / rfマグネトロンスパッタ / ホットメッシュ / 水素ラジカル / / / /  
(英) AZO / rf magnetron sputtering / hot-mesh / hydrogen radical / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 256, CPM2009-97, pp. 37-41, 2009年10月.
資料番号 CPM2009-97 
発行日 2009-10-22 (CPM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPM2009-97 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2009-97

研究会情報
研究会 CPM  
開催期間 2009-10-29 - 2009-10-30 
開催地(和) 富山県立大学 
開催地(英) Toyama Prefectural University 
テーマ(和) 薄膜プロセス・材料、一般 
テーマ(英) Process of Thin Film formation and Materials, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CPM 
会議コード 2009-10-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) タングステンメッシュにより生成した高密度水素ラジカルアニールによるZnO:Al薄膜の低抵抗化 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Lowering of the AZO film resisitivity by hydrogen radical annealing 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) AZO / AZO  
キーワード(2)(和/英) rfマグネトロンスパッタ / rf magnetron sputtering  
キーワード(3)(和/英) ホットメッシュ / hot-mesh  
キーワード(4)(和/英) 水素ラジカル / hydrogen radical  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 大島 穣 / Yutaka Ohshima / オオシマ ユタカ
第1著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 田原 将巳 / Masami Tahara / タハラ マサミ
第2著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) モハマド ハニフ / Mohd Hanif / モハマド ハニフ
第3著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 片桐 裕則 / Hironori Katagiri / カタギリ ヒロノリ
第4著者 所属(和/英) 長岡工業高等専門学校 (略称: 長岡高専)
Nagaoka National College of Technology (略称: Nagaoka National College of Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 新保 和夫 / Kazuo Jinbo / ジンボ カズオ
第5著者 所属(和/英) 長岡工業高等専門学校 (略称: 長岡高専)
Nagaoka National College of Technology (略称: Nagaoka National College of Tech.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 黒木 雄一郎 / Yuichiro Kuroki / クロキ ユウイチロウ
第6著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 高田 雅介 / Masasuke Takata / タカタ マサスケ
第7著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 安井 寛治 / Kanji Yasui / ヤスイ カンジ
第8著者 所属(和/英) 長岡技術科学大学 (略称: 長岡技科大)
Nagaoka University of Technology (略称: Nagaoka Univ. of Tech.)
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講演者 第8著者 
発表日時 2009-10-30 09:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 CPM 
資料番号 CPM2009-97 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.256 
ページ範囲 pp.37-41 
ページ数
発行日 2009-10-22 (CPM) 


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