講演抄録/キーワード |
講演名 |
2009-10-30 09:25
タングステンメッシュにより生成した高密度水素ラジカルアニールによるZnO:Al薄膜の低抵抗化 大島 穣・田原将巳・モハマド ハニフ(長岡技科大)・片桐裕則・新保和夫(長岡高専)・黒木雄一郎・高田雅介・○安井寛治(長岡技科大) CPM2009-97 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2009-97 |
抄録 |
(和) |
第三電極を有するrfマグネトロンスパッタ法を用いて堆積したAl ドープZnO(AZO)膜を水素プラズマアニール処
理することで、抵抗率の低減と基板面内分布の改善効果が見られることを見出してきた。加熱金属触媒体の表面反応を用いると
水素ガスが高効率に分解し、放電を用いた場合に比べ1 桁以上高密度の水素ラジカルが生成出来る。そこで今回、AZO 膜の更
なる低抵抗化を目指して、加熱したタングステンメッシュ表面で生成した水素ラジカルによる水素アニールの効果を調べた。そ
の結果、メッシュ温度1100-1300℃においてはキャリア密度の増大とHall 移動度の向上が見られたが、メッシュ温度1400℃以上
では、結晶性の悪化とキャリア密度の大幅な減少が見られた。 |
(英) |
Al doped ZnO (AZO) films has been deposited by a radio frequency (rf) magnetron sputtering with a third electrode. The
resistivity of the AZO films has decreased and its uniformity has also been improved by hydrogen plasma annealing. In order to further
lower the resistivity of the AZO films, hydrogen annealing using the hydrogen radicals generated on a tungsten hot-mesh was investigated.
As a result, both the electron density and Hall mobility increased at the tungsten mesh temperatures of 1100-1300°C. However, the
crystallinity of the ZnO films deteriorated and their electron densites greatly decreased by the hydrogen radical annealing at the tungsten
mesh temperatures higher than 1400°C. The increase in the Hall mobility was considered to be due to the reduction of the adsorbed oxygen
on the grain boundary by the hydrogen annealing. |
キーワード |
(和) |
AZO / rfマグネトロンスパッタ / ホットメッシュ / 水素ラジカル / / / / |
(英) |
AZO / rf magnetron sputtering / hot-mesh / hydrogen radical / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 109, no. 256, CPM2009-97, pp. 37-41, 2009年10月. |
資料番号 |
CPM2009-97 |
発行日 |
2009-10-22 (CPM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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