講演抄録/キーワード |
講演名 |
2009-07-23 15:00
液晶ディスプレイの残像現象に影響する不純物イオンの解析 ○水崎真伸(東北大/シャープ)・宮下哲哉・内田龍男(東北大)・山田祐一郎(シャープ) EID2009-15 エレソ技報アーカイブへのリンク:EID2009-15 |
抄録 |
(和) |
液晶ディスプレイでは残像発生により画質の低下が生じる場合がある。残像は、液晶パネル内にイオン性不純物が存在することにより発生する残留DC電圧に関わる。このため、残留DC電圧の発生原理を明確にし、その評価方法を確立することは重要となる。本研究では残留DC電圧の発生を、液晶層と配向膜の界面へのイオンの吸着と離脱のモデルを用いて明らかにした。その結果から、イオンの界面への吸着速度定数及び界面からの離脱速度定数を用いることによって、残留DC電圧の正確な評価方法を提案した。 |
(英) |
Image sticking can be observed in some case and it degrades the image quality of liquid crystal (LC) display. The image sticking is considered to be induced by generation of residual DC voltage (VrDC), which would be caused by the presence of ion in a LC cell. We clarified the generation mechanism of VrDC based on a model of adsorption and desorption of the ion to and from the interface between LC and alignment layer. The accurate measurement method of VrDC is proposed based on the adsorption and desorption rate constatnts at the surface. |
キーワード |
(和) |
液晶ディスプレイ / 残像 / 残留DC電圧 / イオン / / / / |
(英) |
Liquid crystal display / Image sticking / Residual DC voltage / Ion / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 109, pp. 13-16, 2009年7月. |
資料番号 |
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発行日 |
2009-07-16 (EID) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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