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講演抄録/キーワード
講演名 2009-07-23 15:00
液晶ディスプレイの残像現象に影響する不純物イオンの解析
水崎真伸東北大/シャープ)・宮下哲哉内田龍男東北大)・山田祐一郎シャープEID2009-15 エレソ技報アーカイブへのリンク:EID2009-15
抄録 (和) 液晶ディスプレイでは残像発生により画質の低下が生じる場合がある。残像は、液晶パネル内にイオン性不純物が存在することにより発生する残留DC電圧に関わる。このため、残留DC電圧の発生原理を明確にし、その評価方法を確立することは重要となる。本研究では残留DC電圧の発生を、液晶層と配向膜の界面へのイオンの吸着と離脱のモデルを用いて明らかにした。その結果から、イオンの界面への吸着速度定数及び界面からの離脱速度定数を用いることによって、残留DC電圧の正確な評価方法を提案した。 
(英) Image sticking can be observed in some case and it degrades the image quality of liquid crystal (LC) display. The image sticking is considered to be induced by generation of residual DC voltage (VrDC), which would be caused by the presence of ion in a LC cell. We clarified the generation mechanism of VrDC based on a model of adsorption and desorption of the ion to and from the interface between LC and alignment layer. The accurate measurement method of VrDC is proposed based on the adsorption and desorption rate constatnts at the surface.
キーワード (和) 液晶ディスプレイ / 残像 / 残留DC電圧 / イオン / / / /  
(英) Liquid crystal display / Image sticking / Residual DC voltage / Ion / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 146, EID2009-15, pp. 13-16, 2009年7月.
資料番号  
発行日 2009-07-16 (EID) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EID2009-15 エレソ技報アーカイブへのリンク:EID2009-15

研究会情報
研究会 EID ITE-IDY  
開催期間 2009-07-23 - 2009-07-23 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) ディスプレイ一般 
テーマ(英) Information Display 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ITE-IDY 
会議コード 2009-07-EID-IDY 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 液晶ディスプレイの残像現象に影響する不純物イオンの解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis of Impurity Ion Affecting Image Sticking Effect on Liquid Crystal Display 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 液晶ディスプレイ / Liquid crystal display  
キーワード(2)(和/英) 残像 / Image sticking  
キーワード(3)(和/英) 残留DC電圧 / Residual DC voltage  
キーワード(4)(和/英) イオン / Ion  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 水崎 真伸 / Masanobu Mizusaki / ミズサキ マサノブ
第1著者 所属(和/英) 東北大学大学院 (略称: 東北大/シャープ)
Tohoku University Graduate School (略称: Tohoku Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮下 哲哉 / Tetsuya Miyashita / ミヤシタ テツヤ
第2著者 所属(和/英) 東北大学大学院 (略称: 東北大)
Tohoku University Graduate School (略称: Tohoku Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 内田 龍男 / Tatsuo Uchida / ウチダ タツオ
第3著者 所属(和/英) 東北大学大学院 (略称: 東北大)
Tohoku University Graduate School (略称: Tohoku Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 山田 祐一郎 / Yuichiro Yamada / ヤマダ ユウイチロウ
第4著者 所属(和/英) シャープ株式会社 (略称: シャープ)
Sharp Corporation (略称: Sharp. Corp.)
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講演者
発表日時 2009-07-23 15:00:00 
発表時間 30 
申込先研究会 ITE-IDY 
資料番号 IEICE-EID2009-15 
巻番号(vol) IEICE-109 
号番号(no) no.146 
ページ範囲 pp.13-16 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-EID-2009-07-16 


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