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講演名 2009-07-02 14:10
不揮発性体積型ホログラムメモリを用いたダイナミック光再構成型ゲートアレイの故障耐性
間渕隆之静岡大)・宮城賢二高松高専)・渡邊 実静岡大)・荻原昭文神戸高専
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文献情報 信学技報, vol. 109, no. 111, VLD2009-25, pp. 109-112, 2009年7月.
資料番号 VLD2009-25 
発行日 2009-06-24 (CAS, VLD, SIP) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380

研究会情報
研究会 SIP CAS VLD  
開催期間 2009-07-01 - 2009-07-02 
開催地(和) 釧路市生涯学習センター 
開催地(英) Kushiko-shi Shogai Gakushu Center 
テーマ(和) 信号処理,LSIおよび一般 
テーマ(英) Signal processing, LSI, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2009-07-SIP-CAS-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 不揮発性体積型ホログラムメモリを用いたダイナミック光再構成型ゲートアレイの故障耐性 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Fault tolerance of a dynamic optically reconfigurable gate array using a non-volatile volume holographic memory 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 間渕 隆之 / Takayuki Mabuchi / マブチ タカユキ
第1著者 所属(和/英) 静岡大学 (略称: 静岡大)
Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮城 賢二 / Kenji Miyashiro / ミヤシロ ケンジ
第2著者 所属(和/英) 国立高松工業高等専門学校 (略称: 高松高専)
Takamatsu National College of Technology (略称: Takamatsu National College of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 渡邊 実 / Minoru Watanabe / ワタナベ ミノル
第3著者 所属(和/英) 静岡大学 (略称: 静岡大)
Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 荻原 昭文 / Akifumi Ogiwara /
第4著者 所属(和/英) 神戸市立工業高等専門学校 (略称: 神戸高専)
KOBE CITY COLLEGE OF TECHNOLOGY (略称: KOBE CITY COLLEGE OF TECH.)
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講演者
発表日時 2009-07-02 14:10:00 
発表時間 20 
申込先研究会 VLD 
資料番号 IEICE-CAS2009-20,IEICE-VLD2009-25,IEICE-SIP2009-37 
巻番号(vol) IEICE-109 
号番号(no) no.110(CAS), no.111(VLD), no.112(SIP) 
ページ範囲 pp.109-112 
ページ数 IEICE-4 
発行日 IEICE-CAS-2009-06-24,IEICE-VLD-2009-06-24,IEICE-SIP-2009-06-24 


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