| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2009-06-19 11:35 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 樋上喜信・○黒瀬洋介・大野智志・山岡弘典・高橋 寛（愛媛大）・清水良浩・相京 隆（半導体理工学研究センター）・高松雄三（愛媛大）  DC2009-13 |
|
| 抄録 | （和） | 半導体デバイスの微細化・高速化に伴い，タイミング不良である遅延故障に対する故障診断の要求が高まってきている．故障診断結果の候補故障数を少なくするためには，故障診断用テスト品質の向上が重要である． 本稿では，遅延故障として，各信号線の遷移故障を対象とし，与えられた故障ペアを区別する故障診断用テスト生成法を提案する．提案するテスト生成法は，与えられた故障ペアに対して，テスト生成用の付加回路を挿入し，縮退故障用テスト生成ツールを用いてテスト生成を行う．この付加回路はテスト生成時のみ用いるもので，通常のテスト容易化設計(DFT)とは異なる． 提案法の有効性については，ISCASベンチマーク回路およびSTARCにより設計され た回路(STARC回路)に対する実験を行い確認する． |
| （英） | In modern high-speed LSIs, defects that cause timing failure occur often, and thus their detection and diagnosis are getting crucial. In order to reduce candidate faults in fault diagnosis, the quality of diagnostic test patterns must be made high. In this paper, we propose a test generation method for diagnosis of transition faults by using stuck-at test generation tool. Experimental results for ISCAS benchmark circuits and a STARC circuit demonstrate the effectiveness of the proposed method. |
|
| キーワード | （和） | 故障診断 / テスト生成 / 遷移故障 / 縮退故障用ATPG / / / / |
| （英） | Fault diagnosis / Test generation / Transition faults / Stuck-at ATPG / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 109, no. 95, DC2009-13, pp. 19-24, 2009年6月. | |
| 資料番号 | DC2009-13 | |
| 発行日 | 2009-06-12 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2009-13 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2009-06-19 - 2009-06-19 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2009-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Diagnositc Test Generation for Transition Faults Using a Stuck-at ATPG Tool |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障診断 / Fault diagnosis |
| キーワード(2)（和/英） | テスト生成 / Test generation |
| キーワード(3)（和/英） | 遷移故障 / Transition faults |
| キーワード(4)（和/英） | 縮退故障用ATPG / Stuck-at ATPG |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 黒瀬 洋介 / Yosuke Kurose / クロセ ヨウスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大野 智志 / Satoshi Ohno / オオノ サトシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山岡 弘典 / Hironori Yamaoka / ヤマオカ ヒロノリ |
| 第4著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 清水 良浩 / Yoshihiro Simizu / シミズ ヨシヒロ |
| 第6著者 所属（和/英） | （株）半導体理工学研究センタ (略称： 半導体理工学研究センター) Semiconductor Technology Academic Reseach Center (略称： STARC) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 相京 隆 / Takashi Aikyo / アイキョウ タカシ |
| 第7著者 所属（和/英） | （株）半導体理工学研究センタ (略称： 半導体理工学研究センター) Semiconductor Technology Academic Reseach Center (略称： STARC) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高松 雄三 / Yuzo Takamatsu / タカマツ ユウゾウ |
| 第8著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2009-06-19 11:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2009-13 |
| 巻番号（vol） | vol.109 |
| 号番号（no） | no.95 |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2009-06-12 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]