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講演抄録/キーワード
講演名 2009-06-05 14:25
ボード実装したICのSパラメータ測定を目的としたTパラメータによる引出し線のディエンベディング ~ 1ポート測定における検討 ~
前田和輝五百旗頭健吾豊田啓孝古賀隆治岡山大EMCJ2009-30
抄録 (和) 数100MHzからGHz帯の高周波において,プリント基板に実装したICのSパラメータ測定を行う際,引出し線やコネクタなどプリント基板に寄生する成分の影響を取り除くことは,ICそのものの特性を抽出するために欠かせない.
これらの寄生成分を取り除くには,較正により測定対象であるIC/LSI直前に測定面を設定する手法,または,寄生成分も含む特性を測定した後に寄生成分をディエンベッドすることでIC/LSIそのものの測定を抽出する手法がある.
本報告では,前者の手法を適用した結果を例示し,その問題点を述べるとともに,
後者の手法についてTパラメータを利用した手法をプリント基板に実装した既知のRC直列負荷に適用し、その精度を検証した.
寄生成分であるプリント基板の引出し線やコネクタのTパラメータを測定し,ディエンベッドすることによりRC直列回路のインピーダンスを抽出した.
その結果,2GHz以下において,前者の手法より高精度であることを示した.
また,電磁界解析に基づく寄生成分のディエンベッド結果との比較をし,2GHz以下において実測に基づく場合と同等の結果を得た. 
(英) In measuring S-parameters of integrated circuits (ICs) mounted on a printed circuit board, it is necessary to de-embed parasitics on board traces and connectors.
The parasitics can be de-embeded by two kinds of methods in the S-parameter measurements: methods that set measurement ports adjacent to ports of IC terminals and methods that extract intrinsic parameters of ICs from measured parameters involving effects of the parasitics.
Firstly, we represented several results of the former methods and their possible errors.
Secondly, we applied the latter methods to a known RC series circuit as employing T-parameters for the de-embedding of parasitics.
The RC series circuit, supposing a typical power-ground impedance of ICs, was extracted successfully up to 2 GHz, after T-parameters of board traces had been experimentally obtained.
The T-parameters were also obtained through an electromagnetic calculations as refering the structure of the board traces and they produce another set of IC parameters that agreed with the experimental set up to 2 GHz.
キーワード (和) Tパラメータ / ディエンベディング / IC / EMCモデル / / / /  
(英) T-parameter / de-embedding / IC / EMC model / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 109, no. 76, EMCJ2009-30, pp. 45-50, 2009年6月.
資料番号 EMCJ2009-30 
発行日 2009-05-29 (EMCJ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2009-30

研究会情報
研究会 EMCJ  
開催期間 2009-06-05 - 2009-06-05 
開催地(和) 東京ビッグサイト(東京国際展示場) 
開催地(英) Tokyo Big Sight (Tokyo International Exihibition Center) 
テーマ(和) 若手研究者発表会〔エレクトロニクス実装学会・電磁特性技術委員会共催〕 
テーマ(英) Young Scientists Award for Excellent Presentations 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2009-06-EMCJ 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ボード実装したICのSパラメータ測定を目的としたTパラメータによる引出し線のディエンベディング 
サブタイトル(和) 1ポート測定における検討 
タイトル(英) De-embedding of Board Parasitics with T-Parameters for S-Parameter Measurements of Integrated Circuits on PCB 
サブタイトル(英) Examinations in One-port Measurements 
キーワード(1)(和/英) Tパラメータ / T-parameter  
キーワード(2)(和/英) ディエンベディング / de-embedding  
キーワード(3)(和/英) IC / IC  
キーワード(4)(和/英) EMCモデル / EMC model  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 前田 和輝 / Kazuki Maeda / マエダ カズキ
第1著者 所属(和/英) 岡山大学 (略称: 岡山大)
Okayama University (略称: Okayama Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 五百旗頭 健吾 / Kengo Iokibe / イオキベ ケンゴ
第2著者 所属(和/英) 岡山大学 (略称: 岡山大)
Okayama University (略称: Okayama Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 豊田 啓孝 / Yoshitaka Toyota / トヨタ ヨシタカ
第3著者 所属(和/英) 岡山大学 (略称: 岡山大)
Okayama University (略称: Okayama Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 古賀 隆治 / Ryuji Koga / コガ リュウジ
第4著者 所属(和/英) 岡山大学 (略称: 岡山大)
Okayama University (略称: Okayama Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2009-06-05 14:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2009-30 
巻番号(vol) vol.109 
号番号(no) no.76 
ページ範囲 pp.45-50 
ページ数
発行日 2009-05-29 (EMCJ) 


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