講演抄録/キーワード |
講演名 |
2009-05-28 14:50
電磁界シミュレータを用いたディエンベディング手法 ○平野拓一(東工大)・中野 洋・平地康剛(アムシス)・広川二郎・安藤 真(東工大) MW2009-15 エレソ技報アーカイブへのリンク:MW2009-15 |
抄録 |
(和) |
MMICを高精度に設計するためには正確にFETの特性を知る必要がある。従来より、FET-TEGとOpen/Short-TEGのSパラメータ実測および等価回路を仮定する方法が用いられている。著者らは、電磁界(EM)シミュレータを併用した、より高精度なディエンベディング手法を提案した。提案手法では、4ポート寄生回路のSパラメータを電磁界シミュレータで解析し、行列演算によって内部に埋め込まれた2ポートの集中定数素子のZ(Y)行列を抽出する。また、従来のディエンベディング手法では、(1)寄生回路を等価回路で近似すること、そして、(2)Open/Short-TEGのパターンを理想的な集中定数のOpen/Shortと見なすことの2点が不安要因であり、精度の悪化が懸念されていた。 (1)が誤差の主要因であることがわかった。 |
(英) |
Accurate characterization of field effect transistors (FETs) is necessary for precise design of monolithic-microwave integrated-circuits (MMICs). Extraction of FET parameters, or characterization, is difficult because the FET is embedded in the parasitic circuit, which is referred to as test element group (TEG), to connect probe and bias. De-embedding method using open/short-TEG had been widely used in characterization of FETs. But two approximations are used in the conventional de-embedding method using open/short-TEG [1]; (1) incompleteness of open and short pattern, and (2) approximation of a parasitic circuit by an equivalent circuit topology. Those approximations cause ambiguity and non-negligible error especially in high frequency band. So, the authors have proposed the de-embedding method using EM simulator, which is more accurate than the conventional de-embedding method. In the proposed method, S-parameters of the four-port parasitic circuit are analyzed by the EM simulator, and unknown two-port Z(Y)-parameters of the embedded lumped-element device are extracted via matrix algebra. It is verified via numerical simulation that the proposed de-embedding method has higher accuracy than the conventional one, and the error factor in the conventional de-embedding method is mainly due to the equivalent circuit approximation of the parasitic circuit. |
キーワード |
(和) |
MMIC / FET / ディエンベディング / 抽出 / 電磁界シミュレータ / 集中定数素子 / / |
(英) |
MMIC / FET / De-embedding / Extraction / EM simulator / Lumped-element / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 109, no. 62, MW2009-15, pp. 35-40, 2009年5月. |
資料番号 |
MW2009-15 |
発行日 |
2009-05-21 (MW) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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