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講演抄録/キーワード
講演名 2009-02-20 11:05
微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究
伊藤大二池田博榮齋藤 寧玉井輝雄飯田和生三重大)・伊藤哲也服部康弘オートネットワーク技研R2008-47 EMD2008-123 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2008-123
抄録 (和) 近年、車載用コネクタの小型化に伴い接触荷重が低下し、接続の信頼性を確保する上で、微摺動摩耗現象が重要な問題となっている。本研究では、車載用コネクタに用いられているすずめっき接点における寿命に対する微摺動摩耗の影響についての解明を目的としている。接触抵抗の上昇が、摩耗粉の発生、酸化、堆積により引き起こされ、この変化は接触痕と摺動距離との関係によって変化し、その結果寿命へも大きな影響を与えていることが明らかになったので報告を行う。 
(英) Recently years, according to downsizing of connectors which applied to automobile, reductions of contact load in connectors are required. For ensuring connecting reliability, it is serious problems that fretting corrosion, which is a typical problem of low-load electrical contacts, happens. In this study, influence of fretting corrosion on lifetime of tin plated contacts which is widely used in automotive connectors was clarified in more precise. Rise of contact resistance is occurred by generation, oxidization and accumulation of fretting debris. The rise is due to relationship between contact trace and amplitude of fretting, and as the result has a large influence on lifetime.
キーワード (和) 摺動距離 / 微摺動摩耗現象 / 接触抵抗 / 寿命 / / / /  
(英) Amplitude / Fretting Corrosion / Contact Resistance / lifetime / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 434, EMD2008-123, pp. 19-24, 2009年2月.
資料番号 EMD2008-123 
発行日 2009-02-13 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2008-47 EMD2008-123 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2008-123

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2009-02-20 - 2009-02-20 
開催地(和) 住友電装本社 
開催地(英) Sumitomo Wiring Systems LTD., Head Office 
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性,信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN,IEEE R JAPAN) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2009-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Influence of Fretting Corrosion on Lifetime of Tin Plated Connectors 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 摺動距離 / Amplitude  
キーワード(2)(和/英) 微摺動摩耗現象 / Fretting Corrosion  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / Contact Resistance  
キーワード(4)(和/英) 寿命 / lifetime  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊藤 大二 / Daiji Ito / イトウ ダイジ
第1著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 池田 博榮 / Hirosaka Ikeda / イケダ ヒロサカ
第2著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 齋藤 寧 / Yasushi Saitoh / サイトウ ヤスシ
第3著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 玉井 輝雄 / Terutaka Tamai / タマイ テルタカ
第4著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 飯田 和生 / Kazuo Iida / イイダ カズオ
第5著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 伊藤 哲也 / Tetsuya Ito / イトウ テツヤ
第6著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd (略称: Auto Networks Tech, Ltd)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori /
第7著者 所属(和/英) 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd (略称: Auto Networks Tech, Ltd)
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講演者
発表日時 2009-02-20 11:05:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-R2008-47,IEICE-EMD2008-123 
巻番号(vol) IEICE-108 
号番号(no) no.433(R), no.434(EMD) 
ページ範囲 pp.19-24 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2009-02-13,IEICE-EMD-2009-02-13 


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