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講演抄録/キーワード
講演名 2009-02-20 14:50
シリコーン蒸気汚染による接触不良発生の電気回路条件依存性
玉井輝雄三重大R2008-53 EMD2008-129 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2008-129
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文献情報 信学技報, vol. 108, no. 434, EMD2008-129, pp. 53-58, 2009年2月.
資料番号 EMD2008-129 
発行日 2009-02-13 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2009-02-20 - 2009-02-20 
開催地(和) 住友電装本社 
開催地(英) Sumitomo Wiring Systems LTD., Head Office 
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性,信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN,IEEE R JAPAN) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2009-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) シリコーン蒸気汚染による接触不良発生の電気回路条件依存性 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Dependency of Occurrence of Contact Failure due to Silicone Contamination on Electrical Load Conditions 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 玉井 輝雄 / Terutaka Tamai / タマイ テルタカ
第1著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
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講演者
発表日時 2009-02-20 14:50:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-R2008-53,IEICE-EMD2008-129 
巻番号(vol) IEICE-108 
号番号(no) no.433(R), no.434(EMD) 
ページ範囲 pp.53-58 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2009-02-13,IEICE-EMD-2009-02-13 


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