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講演抄録/キーワード
講演名 2009-02-20 10:40
Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討
富永裕一山中拓哉齋藤 寧玉井輝雄飯田和生三重大)・服部康弘オートネットワーク技研R2008-46 EMD2008-122 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2008-122
抄録 (和) 車載用コネクタで使用されている銅合金条へSnめっきした試験片を,高温放置することにより酸化被膜を成長させ,放置時間に対する接触荷重―接触抵抗特性の継時的変化を観察した.放置時間が50時間付近までは酸化被膜の成長と思われる抵抗値の上昇が見られたが,それ以降は接触抵抗値が低下した。この現象に対して,表面のミクロな構造の観察などを行い,そのメカニズムについて検討した. 
(英) We kept tin plated specimens in the aging chamber heated at 100 ℃ in order to grow oxidation film. Then we measured contact load - contact resistance characteristics of those specimens with the parameter of aging time. As a result, we observed the increase of the contact resistance until 50 hours with the aging time increasing. But, the contact resistance decreased as of 50 hours. We investigated about that mechanism with the observation of micro structure of surface and so on.
キーワード (和) Snめっき / 酸化被膜 / 接触抵抗 / / / / /  
(英) tin plated / oxidation film / contact resistance / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 434, EMD2008-122, pp. 13-18, 2009年2月.
資料番号 EMD2008-122 
発行日 2009-02-13 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2008-46 EMD2008-122 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2008-122

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2009-02-20 - 2009-02-20 
開催地(和) 住友電装本社 
開催地(英) Sumitomo Wiring Systems LTD., Head Office 
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性,信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN,IEEE R JAPAN) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2009-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Influence of Aging on Contact Resistance Characteristics of Tin Plated Contacts 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Snめっき / tin plated  
キーワード(2)(和/英) 酸化被膜 / oxidation film  
キーワード(3)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 富永 裕一 / Yuichi Tominaga / トミナガ ユウイチ
第1著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 山中 拓哉 / Takuya Yamanaka / ヤマナカ タクヤ
第2著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 齋藤 寧 / Yasushi Saitoh / サイトウ ヤスシ
第3著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 玉井 輝雄 / Terutaka Tamai / タマイ テルタカ
第4著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 飯田 和生 / Kazuo Iida / イイダ カズオ
第5著者 所属(和/英) 三重大学 (略称: 三重大)
Mie University (略称: Mie Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori / ハットリ ヤスヒロ
第6著者 所属(和/英) (株)オートネットワーク技術研究所 (略称: オートネットワーク技研)
AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称: AutoNetworks Tech, Ltd.)
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講演者
発表日時 2009-02-20 10:40:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-R2008-46,IEICE-EMD2008-122 
巻番号(vol) IEICE-108 
号番号(no) no.433(R), no.434(EMD) 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2009-02-13,IEICE-EMD-2009-02-13 


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