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講演抄録/キーワード
講演名 2009-02-20 12:55
光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する実験的検討
柏倉 誠工藤駿佑・○須藤あすか長谷川 誠千歳科技大R2008-49 EMD2008-125 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2008-125
抄録 (和) メカニカルリレー・スイッチの電極表面は、動作時のアーク放電や機械的磨耗による損傷を受ける。電極材料や負荷条件の相違に伴う損傷特性の検討に際して、従来は主として開閉動作試験終了後の電極表面状態の観察・評価が行われているが、開閉動作に伴う電極表面損傷形状(特にクレータ)の成長過程を動作中に経時的に観察・評価できれば、より詳細な比較検討が可能になる。そこで、上記の目的のために光切断法を用いた電極表面形状の評価システムの構築を進めており、基本的な測定機能を確認した。本システムにより、動作試験中のクレータ成長過程を観察し且つ数値的に評価することが可能になった。 
(英) Contact surfaces of mechanical relays and switches are often damaged by arc discharges and/or mechanical wear during switching operations. Conventionally, erosion and transfer characteristics of various contact materials under different load conditions have been mainly studied based on observation and evaluation of contact surfaces after switching operation tests. On the other hand, a further detailed study becomes possible if we can observe and numerically evaluate a growing process of surface damages (especially, growth of a crater) on contact surfaces during switching operations. For that purpose, a numerical evaluation system of contact surface damages by way of an optical cross-section method is being constructed, and its fundamental evaluation capabilities have been successfully installed. With this system, it has become possible to observe and numerically evaluate a crater growth process on a contact surface during switching operations.
キーワード (和) 光切断法 / 電気接点 / アーク放電 / 消耗 / 材料転移 / / /  
(英) optical cross-section method / electrical contacts / arc discharge / erosion / material transfer / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 434, EMD2008-125, pp. 31-36, 2009年2月.
資料番号 EMD2008-125 
発行日 2009-02-13 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2008-49 EMD2008-125 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2008-125

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2009-02-20 - 2009-02-20 
開催地(和) 住友電装本社 
開催地(英) Sumitomo Wiring Systems LTD., Head Office 
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性,信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN,IEEE R JAPAN) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2009-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する実験的検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An experimental study on evaluation system for contact surraces with an optical-cross method 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 光切断法 / optical cross-section method  
キーワード(2)(和/英) 電気接点 / electrical contacts  
キーワード(3)(和/英) アーク放電 / arc discharge  
キーワード(4)(和/英) 消耗 / erosion  
キーワード(5)(和/英) 材料転移 / material transfer  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 柏倉 誠 / Makoto Kashiwakura / カシワクラ マコト
第1著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 (略称: 千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technology (略称: Chitose Inst. of Sci. & Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 工藤 駿佑 / Shunsuke Kudo / クドウ シュンスケ
第2著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 (略称: 千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technology (略称: Chitose Inst. of Sci. & Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 須藤 あすか / Asuka Sudo / スドウ アスカ
第3著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 (略称: 千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technology (略称: Chitose Inst. of Sci. & Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 長谷川 誠 / Makoto Hasegawa / ハセガワ マコト
第4著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 (略称: 千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technology (略称: Chitose Inst. of Sci. & Tech.)
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講演者
発表日時 2009-02-20 12:55:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-R2008-49,IEICE-EMD2008-125 
巻番号(vol) IEICE-108 
号番号(no) no.433(R), no.434(EMD) 
ページ範囲 pp.31-36 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2009-02-13,IEICE-EMD-2009-02-13 


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