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講演抄録/キーワード
講演名 2009-02-20 13:20
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗について(その4) ~
和田真一園田健人越田圭治菊地光男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大R2008-50 EMD2008-126 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2008-126
抄録 (和) 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうる加振機構を開発し,総回数約4200万回の実験を行った.開始後,接触抵抗値が上昇し約200Ωとなった.この傾向は実験終了まで持続した.次に,コネクタの接触圧を小さくし総回数約4400万回の実験を行った.開始後,接触抵抗値が上昇し600-1000Ωとなった.開発した摺動機構による総回数約2400万回の実験を行った.開始後,接触抵抗値が上昇し約200Ωとなった.さらに,ハンマリング加振機構のデータを入力として3次元加振機構に擬似減衰振動を発生させ,総回数約600万回の実験を行った.これら3方式は,動作原理・操作方法・操作回数等に相違があるものの,得られた測定結果には振動現象における類似点が見られた.これらの接触抵抗値変動に対してFretting Corrosionモデルを適用し検討することで,微小振動が接触抵抗に与える影響について考察できる可能性が示唆された. 
(英) The authors have developed the hammering oscillating mechanism which could give real vibration to electrical contacts and made experiments with total operation’s number, about 42 millions. After the term was passed, the contact resistance increased to about 200Ω. The tendency continued till the end. By using the connectors with smaller contact’s force they made experiments with total operation’s number, about 44millions. After the term was passed, the contact resistance increased to about 600-1000Ω. On the contrary, by using the sliding contact mechanism they made experiments with total operation’s number, about 24 millions. After the term was passed, the contact resistance increased to about 200Ω. And inputs of hammering oscillating mechanism’s data were applied to 3-D oscillating mechanism, which generated quasi-damping oscillation and they made experiments with total operation’s number, about 6 millions. Although the three mechanisms are completely different (in principles, methods, numbers, and so on ), the results of three measurements were similar on the oscillating phenomenon. It was suggested that the three mechanisms could detect the more real degradation phenomenon on contacts with the influences of micro-vibration by applying the model of fretting corrosion to the fluctuation of contact resistance.
キーワード (和) 電気接点 / 接触抵抗 / 摺動機構 / ハンマリング加振機構 / 3次元加振機構 / / /  
(英) electrical contact / contact resistance / sliding mechanism / hammering oscillating mechanism / 3-D oscillating mechanism / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 434, EMD2008-126, pp. 37-42, 2009年2月.
資料番号 EMD2008-126 
発行日 2009-02-13 (R, EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2008-50 EMD2008-126 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2008-126

研究会情報
研究会 EMD R  
開催期間 2009-02-20 - 2009-02-20 
開催地(和) 住友電装本社 
開催地(英) Sumitomo Wiring Systems LTD., Head Office 
テーマ(和) 機構デバイスの信頼性,信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN,IEEE R JAPAN) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2009-02-EMD-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 接触抵抗について(その4) 
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism 
サブタイトル(英) for Contact Resistance (IV) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 接触抵抗 / contact resistance  
キーワード(3)(和/英) 摺動機構 / sliding mechanism  
キーワード(4)(和/英) ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism  
キーワード(5)(和/英) 3次元加振機構 / 3-D oscillating mechanism  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System (略称: TMC System)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 園田 健人 / Taketo Sonoda / ソノダ タケト
第2著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System (略称: TMC System)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第3著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System (略称: TMC System)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 菊地 光男 / Mitsuo Kikuchi / キクチ ミツオ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System (略称: TMC System)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System (略称: TMC System)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第6著者 所属(和/英) 慶応大学 (略称: 慶大)
Keio Univ. (略称: Keio Univ.)
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講演者
発表日時 2009-02-20 13:20:00 
発表時間 25 
申込先研究会 EMD 
資料番号 IEICE-R2008-50,IEICE-EMD2008-126 
巻番号(vol) IEICE-108 
号番号(no) no.433(R), no.434(EMD) 
ページ範囲 pp.37-42 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-R-2009-02-13,IEICE-EMD-2009-02-13 


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