講演抄録/キーワード |
講演名 |
2009-02-16 13:50
組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 ○高橋 寛・樋上喜信・和泉太佑・相京 隆・高松雄三(愛媛大) DC2008-73 |
抄録 |
(和) |
微細化加工技術の進展に伴って,配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている.
そのため,品質保証のために,従来の縮退故障に加えてブリッジ故障およびオープン故障を検出できるテストパターンが必要となっている.
本稿では,多様な故障モデルの故障励起条件を利用した欠陥考慮テストパターンの生成法を提案する.
提案手法では,テストパターンの欠陥検出確率に基づいて,与えられたテストパターン集合から欠陥考慮テストパターンを選択する.
評価実験結果から,提案手法により得られた欠陥考慮テストパターン集合は,より少ないテストパターン数でより多くの故障モデルを検出できることを示す. |
(英) |
With shrinking of LSIs, the diversification of defective mode due to defects becomes a critical issue.
Therefore, the test patterns that can detect bridging faults and open faults are needed to maintain the reliability of LSIs.
In this paper, we propose a method for generating the defect diagnostic test patterns by considering fault excitation conditions for various fault models.
The proposed method uses the defect detection probability derived from the fault excitation
functions to select the defect diagnostic test patterns form a given test pattern set.
From the experimental results, we show that the set of defect diagnostic test patterns can detect more fault models under the less number of test patterns. |
キーワード |
(和) |
欠陥 / 欠陥考慮テストパターン / 故障励起関数 / テストパターン選択 / / / / |
(英) |
defect / defect oriented test pattern / fault excitation function / method for selecting test patterns / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 431, DC2008-73, pp. 31-36, 2009年2月. |
資料番号 |
DC2008-73 |
発行日 |
2009-02-09 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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DC2008-73 |