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講演抄録/キーワード
講演名 2009-01-30 10:30
高精度RTLタイミングモデルの一検討
中嶋将太福井正博立命館大
抄録 (和) 近年,LSIの微細化,高性能化に伴い,設計時間の短期化や高性能を維持したままでの低消費電力化といったことが求められるようになった.これらの要求をかなえるために,デザインプロセスにおいて,高いレベルですばやく電力や遅延時間を見積もるということが非常に重要である.本稿ではRTLにおける遅延マクロモデルの提案を行っている.このモデルはVdd,Vtのばらつきに対してトランジスタレベル並みの精度を目標としている.モデル化の手法,及び寄生容量の考慮などに関する検討内容と実験結果について示す. 
(英) Recent, due to the rapid progress of LSI technology, efficient and low-power designs have been highly required to keep high performance. To satisfy these requests, it is very important to be able to explore the value of power and delay at a high-level early in the design process. This paper proposes a new efficient RTL delay macro-model to address these recent problems. The goal is to provide transistor-level accuracy at the RTL with Vt and Vdd variability. The Modeling algorithm that considers parasitic capacitances and experimental results are discussed.
キーワード (和) 遅延マクロモデル / / / / / / /  
(英) delaymacromodel / / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 412(VLD), 413(CPSY), 414(RECONF), VLD2008-113, CPSY2008-75, RECONF2008-77, pp. 129-134, 2009年1月.
資料番号  
発行日 2009-01-22 (VLD, CPSY, RECONF) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
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研究会情報
研究会 VLD CPSY RECONF IPSJ-SLDM  
開催期間 2009-01-29 - 2009-01-30 
開催地(和) 慶応義塾大学(日吉) 
開催地(英)  
テーマ(和) FPGA応用および一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IPSJ-SLDM 
会議コード 2009-01-VLD-CPSY-RECONF-SLDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 高精度RTLタイミングモデルの一検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A study for accurate RTL timing modeling 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 遅延マクロモデル / delaymacromodel  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 中嶋 将太 / Shota Nakajima / ナカジマ ショウタ
第1著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 福井 正博 / Masahiro Fukui / フクイ マサヒロ
第2著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
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講演者
発表日時 2009-01-30 10:30:00 
発表時間 25 
申込先研究会 IPSJ-SLDM 
資料番号 IEICE-VLD2008-113,IEICE-CPSY2008-75,IEICE-RECONF2008-77 
巻番号(vol) IEICE-108 
号番号(no) no.412(VLD), no.413(CPSY), no.414(RECONF) 
ページ範囲 pp.129-134 
ページ数 IEICE-6 
発行日 IEICE-VLD-2009-01-22,IEICE-CPSY-2009-01-22,IEICE-RECONF-2009-01-22 


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