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講演抄録/キーワード
講演名 2008-12-19 16:00
ESDガンの接触放電に対する内蔵インダクタの放電電流立ち上がり波形に及ぼす影響
戸谷史彦高 義礼藤原 修名工大)・石上 忍山中幸雄NICTEMCJ2008-99
抄録 (和) IEC(国際電気標準会議)では,帯電人体による静電気放電(ESD:Electrostatic discharge)を模擬した耐性試験法(IEC61000-4-2)を制定し,ESDガンの接触放電に対する放電電流波形を規定している.しかしながら,放電電流の立ち上がり時間,第一ピークと30nsおよび60nsの振幅値とそれらのばらつきだけを定め,電流波形そのものを規定しているわけではない.特に電流の立ち上がり時間は0.7nsから1nsに制限されるが,これは電流注入用の先端電極と直列に挿入したインダクタによって実現されるが,その周波数特性によっては放電電流の立ち上がり波形は異なり,それ故に試験結果は内蔵インダクタのインピーダンスに左右される恐れがある.本研究では,内蔵インダクタの電流立ち上がり波形に及ぼす影響を調べるために,ESDガンの接触放電に対する放電電流波形と磁界プローブによる近傍磁界波形を同時測定し,内蔵インダクタを同じサイズの金属円柱体と代替したESDガンの場合と比較した.その結果,放電電流の立ち上がり波形のひずみが磁界プローブの誘導出力波形も歪ませるのに対して,金属円柱体内蔵のESDガンでは立ち上がり時間は400ps程度に短くなるものの,電流の立ち上がり波形と磁界誘導出力波形には歪みはみられないことがわかった.つぎに,ESDガンの接触放電に対する放電電流の規定波形をシミュレートし得る計算式を用いて,内蔵インダクタと代替金属円柱体のESDガンに対する放電電流の立ち上がり波形とそれで誘導される磁界プローブの出力波形を計算したところ,内蔵インダクタの場合は計算と測定の両波形は一致しないが,金属円柱体に対しては概ね一致することが確認できた.これらのことは,ESDガンの内臓インダクタの周波数特性によっては耐性試験の結果が異なることを示唆するものであり,それ故にESDガンの放電電流波形に対しては,立ち上がり時間だけでなく,立ち上がり波形も規定する必要があると考える. 
(英) The International Electrotechnical Commission (IEC) prescribes an immunity test (IEC61000-4-2) of electronic equipment for electrostatic discharges (ESDs), and specifies not the whole-waveform but only the rise time, the first peak, the levels at 30 ns and 60 ns of a discharge current injected by an ESD gun onto an IEC recommended calibration target, which is being designed to have the same waveform of an observed voltage as that of an injected current. The rise time is required to be within 0.7 ns to 1.0 ns, which can be realized by mounting an inductor in series with a metal electrode for current injection. Due to the impedance of the inductor, however, discharge currents should rise not smoothly but deformedly, which can affect immunity test results. In this study, in order to investigate the effects of a built-in inductor on current rising waveform, we simultaneously measured discharge currents and the resultant magnetic near fields for the contact discharge of an ESD-gun, and compared their results with the case for an ESD-gun with a metal cylinder in lieu of the inductor. As a result, we found that the magnetic near field waveform is deformed by the distortion of the current rising waveform for an ESD-gun with an inductor, while the ESD-gun with a metal cylinder produces no distortion for the current rising waveform despite its rise time (400 ps) shorter than the IEC specification so that there is no distortion for the corresponding magnetic near field waveform. Using the Heidler’s formula for discharge currents, we calculated current rising waveform and the resultant induced output voltage of a magnetic probe. The results show that the case calculated for a built-in inductor is in poor agreement with the measurement, while there is good agreement for the substituted metal cylinder. This finding implies that immunity test results can be affected by the frequency characteristics of a built-in inductor, and thus that not only rise time but also current rising waveform of a discharge current should be specified.
キーワード (和) ESDガン / 接触放電 / 放電電流 / 立ち上がり波形 / 内蔵インダクタ / / /  
(英) ESD-gun / contact discharge / discharge current / rising waveform / built-in inductor / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 367, EMCJ2008-99, pp. 75-79, 2008年12月.
資料番号 EMCJ2008-99 
発行日 2008-12-12 (EMCJ) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2008-99

研究会情報
研究会 EMCJ  
開催期間 2008-12-19 - 2008-12-19 
開催地(和) 岐阜大学 
開催地(英) Gifu Univ. 
テーマ(和) 放電/電力/一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2008-12-EMCJ 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ESDガンの接触放電に対する内蔵インダクタの放電電流立ち上がり波形に及ぼす影響 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Influence of Built-In Inductor on Rising Part of Discharge Current Waveform for Contact Discharge of ESD-Gun. 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ESDガン / ESD-gun  
キーワード(2)(和/英) 接触放電 / contact discharge  
キーワード(3)(和/英) 放電電流 / discharge current  
キーワード(4)(和/英) 立ち上がり波形 / rising waveform  
キーワード(5)(和/英) 内蔵インダクタ / built-in inductor  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 戸谷 史彦 / Fumihiko Toya / トヤ フミヒコ
第1著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: NIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 高 義礼 / Yoshinori Taka / タカ ヨシノリ
第2著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: NIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤原 修 / Osamu Fujiwara / フジワラ オサム
第3著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: NIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 石上 忍 / Shinobu Ishigami / イシガミ シノブ
第4著者 所属(和/英) 情報通信研究機構 (略称: NICT)
National Institute of Information and Communications Technology (略称: NICT)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 山中 幸雄 / Yukio Yamanaka / ヤマナカ ユキオ
第5著者 所属(和/英) 情報通信研究機構 (略称: NICT)
National Institute of Information and Communications Technology (略称: NICT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2008-12-19 16:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2008-99 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.367 
ページ範囲 pp.75-79 
ページ数
発行日 2008-12-12 (EMCJ) 


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