講演抄録/キーワード |
講演名 |
2008-11-18 13:45
[招待講演]スーパーコンピューターSXにおける熱設計およびオンチップ温度観測 ○梶田幹浩・實吉永典・野瀬浩一・水野正之(NEC) CPM2008-91 ICD2008-90 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2008-91 ICD2008-90 |
抄録 |
(和) |
NECでは、最先端のプロセステクノロジを用いたスーパーコンピュータの開発を行っている。最新のプロセッサでは、集積密度が著しく上がった結果、電力密度も大幅に増加し、LSI温度上昇が危機的な状況にある。このため、近年のプロセッサでは、温度をモニタしながら動作制御を行うことが要求されており、NECのスーパーコンピュータSX-9でも、新規開発したオンチップ温度センサを用いて動作制御を行っている。今回は、この温度センサおよび、センサを用いた熱設計について紹介する。 |
(英) |
NEC has developed supercomputers "SX" using the leading-edge LSI technologies. In the latest microprocessors, CMOS transistors are integrated over die with high density, which may result in an enormous increase in power density. To prevent this critical increase in power consumption, we have proposed a thermal sensor based on transistor off-leakage current, that allows measurement error of less than 3.1℃ even at high temperature. In this paper, we present our thermal sensor and our thermal design using this sensor. |
キーワード |
(和) |
スーパーコンピュータ / 熱設計 / オンチップ温度観測 / オフ電流 / / / / |
(英) |
supercompurter / thermal design / on-die thermal sensing / off leakage current / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 302, ICD2008-90, pp. 13-18, 2008年11月. |
資料番号 |
ICD2008-90 |
発行日 |
2008-11-11 (CPM, ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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