お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2008-11-18 13:45
[招待講演]スーパーコンピューターSXにおける熱設計およびオンチップ温度観測
梶田幹浩實吉永典野瀬浩一水野正之NECCPM2008-91 ICD2008-90 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2008-91 ICD2008-90
抄録 (和) NECでは、最先端のプロセステクノロジを用いたスーパーコンピュータの開発を行っている。最新のプロセッサでは、集積密度が著しく上がった結果、電力密度も大幅に増加し、LSI温度上昇が危機的な状況にある。このため、近年のプロセッサでは、温度をモニタしながら動作制御を行うことが要求されており、NECのスーパーコンピュータSX-9でも、新規開発したオンチップ温度センサを用いて動作制御を行っている。今回は、この温度センサおよび、センサを用いた熱設計について紹介する。 
(英) NEC has developed supercomputers "SX" using the leading-edge LSI technologies. In the latest microprocessors, CMOS transistors are integrated over die with high density, which may result in an enormous increase in power density. To prevent this critical increase in power consumption, we have proposed a thermal sensor based on transistor off-leakage current, that allows measurement error of less than 3.1℃ even at high temperature. In this paper, we present our thermal sensor and our thermal design using this sensor.
キーワード (和) スーパーコンピュータ / 熱設計 / オンチップ温度観測 / オフ電流 / / / /  
(英) supercompurter / thermal design / on-die thermal sensing / off leakage current / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 302, ICD2008-90, pp. 13-18, 2008年11月.
資料番号 ICD2008-90 
発行日 2008-11-11 (CPM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPM2008-91 ICD2008-90 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2008-91 ICD2008-90

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2008-11-17 - 2008-11-19 
開催地(和) 北九州学術研究都市 
開催地(英) Kitakyushu Science and Research Park 
テーマ(和) デザインガイア2008 ―VLSI設計の新しい大地― 
テーマ(英) Design Gaia 2008 ―New field of VLSI design― 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2008-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) スーパーコンピューターSXにおける熱設計およびオンチップ温度観測 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Thermal design and on-die thermal sensing in the SX supercompurters 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) スーパーコンピュータ / supercompurter  
キーワード(2)(和/英) 熱設計 / thermal design  
キーワード(3)(和/英) オンチップ温度観測 / on-die thermal sensing  
キーワード(4)(和/英) オフ電流 / off leakage current  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 梶田 幹浩 / Mikihiro Kajita / カジタ ミキヒロ
第1著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC Corporation)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 實吉 永典 / Eisuke Saneyoshi / サネヨシ エイスケ
第2著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC Corporation)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 野瀬 浩一 / Koichi Nose / ノセ コウイチ
第3著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC Corporation)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 水野 正之 / Masayuki Mizuno / ミズノ マサユキ
第4著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC Corporation)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2008-11-18 13:45:00 
発表時間 45分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 CPM2008-91, ICD2008-90 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.301(CPM), no.302(ICD) 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数
発行日 2008-11-11 (CPM, ICD) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会