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講演抄録/キーワード
講演名 2008-11-17 13:00
ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法
濱崎和光細川利典日大VLD2008-60 DC2008-28
抄録 (和) 近年VLSIの大規模化,複雑化に伴い,縮退故障テスト以外に遷移故障やブリッジ故障に対するテストの要求が高まってきている.しかしながら,縮退故障以外の故障モデルを検出するために新たにテストパターンを追加すると,テストパターン数に比例してテストコストが増大する.本論文では,ドントケア抽出技術を用いて与えられた縮退故障テストパターンに対して,ドントケアを抽出し,できるだけ多数の遷移故障を検出するようにドントケアに対する値の再割り当て方法を提案する.ITC’99ベンチマーク回路に対して本提案手法を適用した結果,テストパターン数を増加させることなく,遷移故障検出率を5~25%向上させることができた. 
(英) In recent year, transition fault testing and/or bridging fault testing for VLSIs are increasingly required in addition to stuck-at fault testing because the number of gates on VLSIs is rapidly increasing and their complexity is growing with advances in semiconductor technology. However, additional test patterns to detect fault models other than stuck-at fault cause the increase of testing cost. In this paper, we propose a method to generate a modified test set that not only guarantees to detect stuck-at faults but also detects as many as possible transition faults by applying don’t care identification techniques to a given stuck-at test set. Therefore, there are no negative impacts on testing cost. Experimental results for ITC’99 benchmark circuits show that the modified test sets obtained by the proposed method detect more transition faults from 5 to 25% than the test sets initially generated for stuck-at faults.
キーワード (和) ドントケア抽出 / スキュードロード / 遷移故障 / 逆シフト / / / /  
(英) don’t care / skewed load / transition fault / reverse shifting / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 299, DC2008-28, pp. 1-6, 2008年11月.
資料番号 DC2008-28 
発行日 2008-11-10 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2008-60 DC2008-28

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2008-11-17 - 2008-11-19 
開催地(和) 北九州学術研究都市 
開催地(英) Kitakyushu Science and Research Park 
テーマ(和) デザインガイア2008 ―VLSI設計の新しい大地― 
テーマ(英) Design Gaia 2008 ―New field of VLSI design― 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2008-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) On Improving Transition Fault Coverage of Stuck-at Fault Tests Using Don't Care Identification Technique 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ドントケア抽出 / don’t care  
キーワード(2)(和/英) スキュードロード / skewed load  
キーワード(3)(和/英) 遷移故障 / transition fault  
キーワード(4)(和/英) 逆シフト / reverse shifting  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 濱崎 和光 / Kazumitsu Hamasaki / ハマサキ カズミツ
第1著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ
第2著者 所属(和/英) 日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2008-11-17 13:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 VLD2008-60, DC2008-28 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.298(VLD), no.299(DC) 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数
発行日 2008-11-10 (VLD, DC) 


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