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講演抄録/キーワード
講演名 2008-11-17 14:15
TEGチップを用いたオープン故障の解析
堤 利幸・○刈谷泰由紀山崎浩二明大)・橋爪正樹四柳浩之徳島大)・高橋 寛樋上喜信高松雄三愛媛大VLD2008-63 DC2008-31
抄録 (和) 半導体技術の高集積化が進みLSIの故障検出や故障診断が難しくなってきている.特に,オープン故障への対策はLSIの微細化に伴いますます重要となってきているが,オープン故障の実用的なモデル化はいまだなされていない.そこで,我々はオープン故障を組み込んだTEG(Test Element Group)チップを作製し,その測定データに基づいたオープン故障のモデル化に取り組んでいる.本研究では,TEGチップの測定データの解析を行い,実チップ中の近接する信号線がオープン故障の信号線に実際にどのような影響を及ぼしているかについて報告する. 
(英) The high integration of the semiconductor technology advances, and the fault detection and the failure diagnosis of LSI become difficult. Especially, a practicable modeling of an open fault has not been performed yet, though measures against the open fault become important more with advancement of LSI process technology. So, we have fabricated TEG (Test Element Group) chips into which open defects is intentionally built, and then we research on modeling the open fault based on the measurement data of the TEG chips. In this paper, the measurement data of the TEG chip is analyzed, and we report how influence a logical value of a faulty signal line with full open defect actually depend on those of the adjacent signal lines in the real chip.
キーワード (和) オープン故障 / TEGチップ / LSIテスト / 故障モデル / / / /  
(英) open faults / TEG chip / LSI testing / fault model / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 108, no. 299, DC2008-31, pp. 19-24, 2008年11月.
資料番号 DC2008-31 
発行日 2008-11-10 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2008-63 DC2008-31

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2008-11-17 - 2008-11-19 
開催地(和) 北九州学術研究都市 
開催地(英) Kitakyushu Science and Research Park 
テーマ(和) デザインガイア2008 ―VLSI設計の新しい大地― 
テーマ(英) Design Gaia 2008 ―New field of VLSI design― 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2008-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) TEGチップを用いたオープン故障の解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Analysis of Open Fault using TEG Chip 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) オープン故障 / open faults  
キーワード(2)(和/英) TEGチップ / TEG chip  
キーワード(3)(和/英) LSIテスト / LSI testing  
キーワード(4)(和/英) 故障モデル / fault model  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 堤 利幸 / Toshiyuki Tsutsumi / ツツミ トシユキ
第1著者 所属(和/英) 明治大学 (略称: 明大)
Meiji University (略称: Meiji Univ)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 刈谷 泰由紀 / Yasuyuki Kariya / カリヤ ヤスユキ
第2著者 所属(和/英) 明治大学 (略称: 明大)
Meiji University (略称: Meiji Univ)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 山崎 浩二 / Koji Yamazaki / ヤマザキ コウジ
第3著者 所属(和/英) 明治大学 (略称: 明大)
Meiji University (略称: Meiji Univ)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシズメ マサキ
第4著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ
第5著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
Tokushima University (略称: Tokushima Univ)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ
第6著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ
第7著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 高松 雄三 / Yuzo Takamatsu / タカマツ ユウゾウ
第8著者 所属(和/英) 愛媛大学 (略称: 愛媛大)
Ehime University (略称: Ehime Univ)
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講演者 第2著者 
発表日時 2008-11-17 14:15:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 VLD2008-63, DC2008-31 
巻番号(vol) vol.108 
号番号(no) no.298(VLD), no.299(DC) 
ページ範囲 pp.19-24 
ページ数
発行日 2008-11-10 (VLD, DC) 


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