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| 講演名 | 2008-11-16 09:20 めっきを施した電気接点における接触抵抗挙動(2) ～ FEM解析を用いた接触面積 ～ ○清水佳織（オートネットワーク技研）・島田茂樹（住友電工）・澤田 滋・服部康弘（オートネットワーク技研）  EMD2008-89 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2008-89 |
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| 抄録 | （和） | Electrical contacts are the most important parts of electrical circuits, and many reliability problems of the circuits are related to contact failure. The contact resistance is one of the important factors for assessing connector reliability, and thus the prediction of contact resistance is essential to designing electrical terminals. In this study, embossments, each 1mm to 3 mm in radius, were brought into contact with flat planes to simulate the point of contact on a terminal, and the contact resistance was measured using a four-probe method under the load up to 40N. Copper alloy samples, each plated with tin or silver and having an embossment 1mm to 3mm in radius, were used and the visually clear indentations resulting from the embossment to plane contact were measured to determine their areas. Since the contact resistance is dependent on the contact area, an FEM analysis must be carried out to determine the contact areas correctly. In this paper, an elasto-plastic FEM analysis was performed taking the plating layers into account and a method was established to make precise determination of the contact areas for different shapes of contacts and loads. The resultant contact areas were used to calculate the contact resistance, which showed a good agreement with experimental results. It was established that the load-resistance curves can be predicted on the basis of the shapes of the contacts as well as plating. |
| （英） | Electrical contacts are the most important parts of electrical circuits, and many reliability problems of the circuits are related to contact failure. The contact resistance is one of the important factors for assessing connector reliability, and thus the prediction of contact resistance is essential to designing electrical terminals. In this study, embossments, each 1mm to 3 mm in radius, were brought into contact with flat planes to simulate the point of contact on a terminal, and the contact resistance was measured using a four-probe method under the load up to 40N. Copper alloy samples, each plated with tin or silver and having an embossment 1mm to 3mm in radius, were used and the visually clear indentations resulting from the embossment to plane contact were measured to determine their areas. Since the contact resistance is dependent on the contact area, an FEM analysis must be carried out to determine the contact areas correctly. In this paper, an elasto-plastic FEM analysis was performed taking the plating layers into account and a method was established to make precise determination of the contact areas for different shapes of contacts and loads. The resultant contact areas were used to calculate the contact resistance, which showed a good agreement with experimental results. It was established that the load-resistance curves can be predicted on the basis of the shapes of the contacts as well as plating. |
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| キーワード | （和） | 電気接点 / 接触抵抗 / めっき / 荷重 / 有限要素法 / / / |
| （英） | electrical contact / contact resistance / plating / contact load / FEM analysis / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 296, EMD2008-89, pp. 97-100, 2008年11月. | |
| 資料番号 | EMD2008-89 | |
| 発行日 | 2008-11-08 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2008-89 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2008-89 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2008-11-15 - 2008-11-16 |
| 開催地（和） | 東北文化学園大学（仙台） |
| 開催地（英） | Tohoku Bunka Gakuin University (Sendai) |
| テーマ（和） | 国際セッションIS-EMD2008 |
| テーマ（英） | International Session on Electro-Mechanical Devices 2008 |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2008-11-EMD |
| 本文の言語 | 英語（日本語タイトルあり） |
| タイトル（和） | めっきを施した電気接点における接触抵抗挙動(2) |
| サブタイトル（和） | FEM解析を用いた接触面積 |
| タイトル（英） | Prediction of resistance of electrical contact with plated layer(2) |
| サブタイトル（英） | Contact area by FEM analysis |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(3)（和/英） | めっき / plating |
| キーワード(4)（和/英） | 荷重 / contact load |
| キーワード(5)（和/英） | 有限要素法 / FEM analysis |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 清水 佳織 / Kaori Shimizu / シミズ カオリ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称： AutoNetworks Technologies, Ltd.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 島田 茂樹 / Shigeki Shimada / シマダ シゲキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 住友電気工業株式会社 (略称： 住友電工) Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称： Sumitomo Electric Industries, Ltd.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤田 滋 / Shigeru Sawada / サワダ シゲル |
| 第3著者 所属（和/英） | 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称： AutoNetworks Technologies, Ltd.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 服部 康弘 / Yasuhiro Hattori / ハットリ ヤスヒロ |
| 第4著者 所属（和/英） | 株式会社オートネットワーク技術研究所 (略称： オートネットワーク技研) AutoNetworks Technologies, Ltd. (略称： AutoNetworks Technologies, Ltd.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-11-16 09:20:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2008-89 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.296 |
| ページ範囲 | pp.97-100 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2008-11-08 (EMD) |
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