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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-11-14 14:00 六価クロム検出加速試験の一考察 ○柳井健太郎・安井 徹・岸本典也（オムロン）・伊藤貞則（イトケン事務所）  R2008-35 |
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| 抄録 | （和） | RoHS指令により、六価クロム化成皮膜の代替品として、三価クロム系化成皮膜が広く使われるようになっている。しかし三価クロム系化成皮膜から六価クロムが検出され、その値は一定期間増加する。そこで三価クロム系化成皮膜処理を施したねじに対し、高温試験、高温高湿試験を行い、加速因子と加速試験法の適応性を検討した。その結果80℃95%RHの試験を行えば、六価クロムの経時変化は加速され、早期に六価クロム評価ができることがわかった。 |
| （英） | By the RoHS directive, chromic conversion coating has come to be used widely as an alternative chromate conversion coating. However, Cr(?) is detected from chromic conversion coating, and the value is increased for the certain period. We did a high temperature test and high temperature / humidity test to the screw which performed chromic conversion coating processing, and analyzed examination of an acceleration factor and the adaptability of the accelerated test method. As a result, when examining 80℃95%RH, it turned out that the longitudinal variation of Cr(?) is accelerated, and early Cr(?) evaluation can be performed as well. | |
| キーワード | （和） | RoHS / 六価クロム / 加速試験 / 三価クロム系化成皮膜 / / / / |
| （英） | RoHS / Cr(?) / accelerated test / chromic conversion coating / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 295, R2008-35, pp. 1-4, 2008年11月. | |
| 資料番号 | R2008-35 | |
| 発行日 | 2008-11-07 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2008-35 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2008-11-14 - 2008-11-14 |
| 開催地（和） | 中央電気倶楽部 |
| 開催地（英） | Chuo denki Club |
| テーマ（和） | 電子デバイスの信頼性, 信頼性一般 |
| テーマ（英） | Electronics Device, Reliability, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2008-11-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 六価クロム検出加速試験の一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | * |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | RoHS / RoHS |
| キーワード(2)（和/英） | 六価クロム / Cr(?) |
| キーワード(3)（和/英） | 加速試験 / accelerated test |
| キーワード(4)（和/英） | 三価クロム系化成皮膜 / chromic conversion coating |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳井 健太郎 / Kentaro Yanai / ヤナイ ケンタロウ |
| 第1著者 所属（和/英） | オムロン株式会社 (略称： オムロン) OMRON Corporation (略称： OMROM Corp) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 安井 徹 / Toru Yasui / ヤスイ トオル |
| 第2著者 所属（和/英） | オムロン株式会社 (略称： オムロン) OMRON Corporation (略称： OMROM Corp) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岸本 典也 / Noriya Kishimoto / キシモト ノリヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | オムロン株式会社 (略称： オムロン) OMRON Corporation (略称： OMROM Corp) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 貞則 / Sadanori Ito / イトウ サダノリ |
| 第4著者 所属（和/英） | イトケン事務所 (略称： イトケン事務所) Itoken office (略称： Itoken office) |
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| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-11-14 14:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2008-35 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.295 |
| ページ範囲 | pp.1-4 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2008-11-07 (R) |
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