講演抄録/キーワード |
講演名 |
2008-11-13 15:35
大規模光再構成型ゲートアレイにおけるホログラムメモリの不良耐性 ○瀬戸大作・渡邊 実(静岡大) SDM2008-172 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2008-172 |
抄録 |
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キーワード |
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文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 292, SDM2008-172, pp. 21-26, 2008年11月. |
資料番号 |
SDM2008-172 |
発行日 |
2008-11-06 (SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
SDM2008-172 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2008-172 |
研究会情報 |
研究会 |
SDM |
開催期間 |
2008-11-13 - 2008-11-14 |
開催地(和) |
機械振興会館 |
開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
テーマ(和) |
プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 |
テーマ(英) |
Process, Device, Circuit Simulation, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
SDM |
会議コード |
2008-11-SDM |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
大規模光再構成型ゲートアレイにおけるホログラムメモリの不良耐性 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Fault tolerance of the holographic memory in the large scale opptically reconfigurable gate array. |
サブタイトル(英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
瀬戸 大作 / Daisaku Seto / セト ダイサク |
第1著者 所属(和/英) |
静岡大学 (略称: 静岡大)
Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
渡邊 実 / Minoru Watanabe / ワタナベ ミノル |
第2著者 所属(和/英) |
静岡大学 (略称: 静岡大)
Shizuoka University (略称: Shizuoka Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2008-11-13 15:35:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
SDM |
資料番号 |
SDM2008-172 |
巻番号(vol) |
vol.108 |
号番号(no) |
no.292 |
ページ範囲 |
pp.21-26 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2008-11-06 (SDM) |
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